-
公开(公告)号：CN1882830A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480033227.0
申请日：2004-10-28
发明人： 沃夫冈·巴贝尔 , 托尔斯滕·佩希施泰因 , 托马斯·施特肯赖特
IPC分类号： G01N27/414
CPC分类号： G01N27/414
摘要： 本发明的传感器布置包括：至少两个样本腔(9)；至少两个电位测量FET传感器(10)，特别是IsFET传感器或ChemFET传感器，其各自具有敏感表面部分(2)，其中每一敏感表面部分与一个样本腔流动连接；和参考室，其具有用于提供参考电位的参考介质，其中样本腔经由电解液桥与参考介质相连。优选地，参考室具有用于提供参考电位的电位测量参考FET传感器(12)，其检测电位偏移电极的伪参考电位。相对于伪参考电位确定在样本腔中的N个FET传感器的电位Udiff1、Udiff2、……UdiffN，并且通过在相关电位和参考电位之间的差确定与测量变量相关的电位差UpH1...N＝Udiff1...N－Udiffref。
-
公开(公告)号：CN102313572B
公开(公告)日：2016-10-19
申请号：CN201110180080.X
申请日：2011-06-24
发明人： 托马斯·施特肯赖特 , 汉斯-彼得·勒斯勒尔
摘要： 本发明涉及一种用于调整过程分析技术中的测量设备的方法，其中，测量设备(1)局部地远离执行参考测量的参考测量设备(6)，其中比较测量设备(1)的测量值与参考测量设备(6)的参考值，并且由该比较推导出至少一个用于测量设备(1)的调整变量。为了能够非常快速且不中断测量设备工作过程地执行调整方法，测量设备(1)的测量值和参考测量设备(6)的参考测量值在中央数据采集和处理软件(4)中结合，由中央数据采集和处理软件(4)测定调整值并随后将调整变量从中央数据采集和处理软件(4)传送到测量设备(1)以调整测量值。
-
公开(公告)号：CN105008890A
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201480012047.8
申请日：2014-02-27
CPC分类号： G01N1/14 , C12M33/12 , C12M37/00 , G01N1/28 , G01N2001/1025 , G01N2001/1037 , G01N2001/1418 , G01N2001/1445
摘要： 本发明涉及一种用于从过程容器(1)，特别是要被保护免于污染的过程容器，汲取液体的装置，包括：第一接受器(9)，其用于容纳从过程容器(1)汲取的液体(10)；第一液体管线(2)，其将过程容器与第一接受器(9)连接并且具有能够连接到过程容器(1)的第一端和通向第一接受器(9)的第二端；以及至少一个第一阀组件(3)，其布置在第一液体管线(2)的第一端和第二端之间并且设计成可替代地阻断或允许液体穿过第一液体管线(2)的输送，该装置包括至少一个压力传感器(6)，其与第一接受器(9)连接，特别是为了检测第一接受器(9)内存在的压力，其和/或布置在第一液体管线(2)的第二端，该装置设计成在第一操作模式中从过程容器(1)向第一接受器(9)输送液体，其特征在于，该装置设计成在第二操作模式中阻断液体从过程容器(1)向第一接受器(9)的输送，该装置设计成使得，在第一操作模式和第二操作模式两者中并且只要第一液体管线(2)的第一端与过程容器(1)连接并且只要过程容器(1)要被保护免于污染，在第一液体管线(2)的第一端和第二端之间存在大于或等于零的压差(P1-P2)，特别是大于特定的可允许最小值的压差(P1-P2)。
-
公开(公告)号：CN104870991A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201380067674.7
申请日：2013-11-25
IPC分类号： G01N27/416
CPC分类号： G01D18/00 , G01N27/4165
摘要： 根据本发明的方法用于确定集成在过程容器(2)中的测量变换器(4，5)的状态，其中一个或多个过程在过程容器(2)中执行且测量变换器(4，5)检测过程容器内的至少一个物理或化学过程参数，该方法包括以下步骤：-识别当前在过程容器(2)中正在执行的过程；-确定偏差值，作为在当前在过程容器(2)中正在执行的过程期间由测量变换器(4，5)检测的测量值变化曲线与对于识别的过程预期的测量值变化曲线的偏差的度量，其中考虑偏差值，测量变换器和/或过程的状态被确定。
-
公开(公告)号：CN102313572A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110180080.X
申请日：2011-06-24
发明人： 托马斯·施特肯赖特 , 汉斯-彼得·勒斯勒尔
摘要： 本发明涉及一种用于调整过程分析技术中的测量设备的方法，其中，测量设备(1)局部地远离执行参考测量的参考测量设备(6)，其中比较测量设备(1)的测量值与参考测量设备(6)的参考值，并且由该比较推导出至少一个用于测量设备(1)的调整变量。为了能够非常快速且不中断测量设备工作过程地执行调整方法，测量设备(1)的测量值和参考测量设备(6)的参考测量值在中央数据采集和处理软件(4)中结合，由中央数据采集和处理软件(4)测定调整值并随后将调整变量从中央数据采集和处理软件(4)传送到测量设备(1)以调整测量值。
-
公开(公告)号：CN100489515C
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200480033227.0
申请日：2004-10-28
发明人： 沃夫冈·巴贝尔 , 托尔斯滕·佩希施泰因 , 托马斯·施特肯赖特
IPC分类号： G01N27/414
CPC分类号： G01N27/414
摘要： 本发明的传感器系统包括：至少两个样本腔(9)；至少两个电位测量FET传感器(10)，特别是IsFET传感器或ChemFET传感器，其各自具有敏感表面部分(2)，其中每一敏感表面部分与一个样本腔流动连接；和参考室，其具有用于提供参考电位的参考介质，其中样本腔经由电解液桥与参考介质相连。优选地，参考室具有用于提供参考电位的电位测量参考FET传感器(12)，其检测电位偏移电极的伪参考电位。相对于伪参考电位确定在样本腔中的N个FET传感器的电位Udiff1、Udiff2、…UdiffN，并且通过在相关电位和参考电位之间的差确定与测量变量相关的电位差UpH1…N＝Udiff1…N-Udiffref。
-
-
-
-
-
搜索结果
6 条记录 (耗时 0.043 秒)