吸收测量系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102486458B

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201110393790.0

    申请日:2011-12-01

    CPC classification number: G01N21/8507 G01N21/59 G01N2201/0662

    Abstract: 本发明描述了一种能够灵活地在大测量范围之上使用,以测量在它的吸收行为中反映的、介质的至少一种性质,特别是诸如介质吸收系数(μ)的性质的吸收测量系统。该吸收测量系统包括:在测量操作中填充有介质的测量腔室(1),其中能够被用作测量路径(M)并且具有不同长度(L)的可辐射光路完全地穿过介质延伸;在测量操作中穿过测量腔室(1)沿着测量路径(M)发射辐射的发射单元(3);接收在测量路径(M)上穿过测量腔室(1)的辐射,并且测量其依赖于介质性质和测量路径长度(L)的辐射强度(I)的测量和接收单元(5);以及基于测量辐射强度(I)和测量路径(M)的长度(L)来确定所述性质的测量电子设备(7)。

    吸收测量系统
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102486458A

    公开(公告)日:2012-06-06

    申请号:CN201110393790.0

    申请日:2011-12-01

    CPC classification number: G01N21/8507 G01N21/59 G01N2201/0662

    Abstract: 本发明描述了一种能够灵活地在大测量范围之上使用,以测量在它的吸收行为中反映的、介质的至少一种性质,特别是诸如介质吸收系数(μ)的性质的吸收测量系统。该吸收测量系统包括:在测量操作中填充有介质的测量腔室(1),其中能够被用作测量路径(M)并且具有不同长度(L)的可辐射光路完全地穿过介质延伸;在测量操作中穿过测量腔室(1)沿着测量路径(M)发射辐射的发射单元(3);接收在测量路径(M)上穿过测量腔室(1)的辐射,并且测量其依赖于介质性质和测量路径长度(L)的辐射强度(I)的测量和接收单元(5);以及基于测量辐射强度(I)和测量路径(M)的长度(L)来确定所述性质的测量电子设备(7)。

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