圆柱滚子圆柱面超精密抛光加工用的半固着磨粒抛光盘

    公开(公告)号:CN111251078A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010150346.5

    申请日:2019-04-23

    摘要: 圆柱滚子圆柱面超精密抛光加工用的半固着磨粒抛光盘,它由基盘和粘附于基盘表面的半固着磨粒抛光层构成;所述半固着磨粒抛光层中,包含:31~36wt%的α-氧化铝颗粒,22~25wt%的氧化铈颗粒,23~27wt%的胶体二氧化硅,余量为结合剂;所述α-氧化铝颗粒的粒径为0.02~15微米;所述氧化铈颗粒的粒径为0.01~5微米;所述结合剂由胶粘剂和添加剂组成,其中胶粘剂占40~60wt%;所述半固着磨粒抛光盘按照以下步骤制得:I.将磨粒、胶粘剂和添加剂混合,搅拌均匀,制得混合物料;II.将基盘置于模具中,然后再将制得的混合物料倒入模具中,冷压成型;III.冷压成型后加热固化,冷却后制得半固着磨粒抛光盘。

    圆柱滚子的超精密抛光方法

    公开(公告)号:CN110039381B

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201910328527.X

    申请日:2019-04-23

    IPC分类号: B24B1/00 B24B35/00

    摘要: 圆柱滚子的超精密抛光方法,包括:采用双平面研抛设备对圆柱滚子的圆柱面进行粗抛光和精抛光;安装于双平面研抛设备的上抛光盘和下抛光盘均是半固着磨粒抛光盘;半固着磨粒抛光层中,包含:31~36wt%的α‑氧化铝颗粒,22~25wt%的氧化铈颗粒,23~27wt%的胶体二氧化硅,余量为结合剂;所述α‑氧化铝颗粒的粒径为0.02~15微米;所述氧化铈颗粒的粒径为0.01~5微米;所述结合剂由胶粘剂和添加剂组成,其中胶粘剂占60~80wt%。该方法具有抛光精度高,加工效率高,圆柱滚子表面光洁度高,且批一致性高的特点。

    圆柱工件上下翻面装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110255136A

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201910633832.X

    申请日:2019-07-15

    IPC分类号: B65G47/248

    摘要: 本申请涉及圆柱工件上下翻面装置,包括上输送带、下输送带和设于上输送带下料端和下输送带上料端之间的翻面装置;所述上输送带和下输送带上下交错设置,其传送方向相垂直,上输送带下料端和下输送带上料端位置相对应,并通过翻面装置将其首尾相连;所述翻面装置包括设于上输送带下料端两侧的弧形翻面滑梯位置调整支架、设于两个弧形翻面滑梯位置调整支架之间的弧形翻面滑梯倾角调整支架和与弧形翻面滑梯位置调整支架固联的弧形翻面滑梯。本申请结构设计精巧简便,无需人工或复杂的机械手操作,成本低,工作效率高,且便于产业化;其适应性强,待翻面元件不受材质限制,可以完成高径比非常小的滚子的上、下翻面操作,翻面效率高。

    平面推力轴承保持架游隙检测装置和方法

    公开(公告)号:CN109974650A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201910283942.8

    申请日:2019-04-10

    IPC分类号: G01B21/16 G01M13/04

    摘要: 平面推力轴承保持架游隙检测装置,包括定位机构和检测机构;定位机构旋转台和升降夹紧机构,升降夹紧机构上端从旋转台内露出,旋转台通过旋转驱动机构驱动旋转;升降夹紧机构夹紧底座,夹紧底座内套设有弹性升降台,弹性升降台内套设有推球机构,弹性升降台下端连接有第一升降气缸;推球机构包括工件定位台以及推球杆,工件定位台上沿周向均匀设有4个对应滚珠的顶球块,工件定位台的直径比平面推力轴承保持架直径小2~4mm;推球杆下端与第二升降气缸连接;检测机构包括升降板以及固定在升降板上的4个位移传感器,4个位移传感器对应4个顶球块设置,升降板与其上方的第三升降气缸连接。该装置操作简单,检测效率高,检测精度高。

    一种轮毂轴承的轴向负游隙检测方法

    公开(公告)号:CN109931901A

    公开(公告)日:2019-06-25

    申请号:CN201910334797.1

    申请日:2019-04-24

    摘要: 轮毂轴承轴向负游隙检测方法,1)将组装好的轮毂轴承装配单元安装在检测装置上,然后第一气缸驱动底盘上升,当底盘与外圈的法兰盘的下端相抵时,再在底盘上安装压盘,夹紧外圈;2)由第二气缸驱动环形压板下压,对第一内圈施加一个恒定的下压力;3)启动电机,带动外圈转动,再由第一气缸驱动外圈下降至最低位置,然后由第一气缸驱动外圈上升至最高位置,记录外圈上升过程发生的位移L1;4)将第一内圈沿轴向压入,使第一内圈与第二内圈接触,记录第一内圈压入过程的位移L2;5)如果,L1≥L2,则不存在负游隙,直接判为不合格,更换第一内圈,重新检测;如果L1<L2,则负游隙值为L1-L2,负游隙值不符合要求时,更换第一内圈,重新检测。

    平面推力球轴承轴向游隙检测设备及方法

    公开(公告)号:CN112525126A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN202011210226.6

    申请日:2020-11-03

    IPC分类号: G01B21/16 B07C5/12

    摘要: 一种轴承轴向游隙自动化检测装置,包括底座、送料机构、导送机构、夹取机构、下压机构、提升机构、弹簧探头和位移探头,所述送料机构、所述导送机构、所述提升机构各自均连接在所述底座上,所述夹取机构、所述下压机构连接在所述导送机构上而由其带动水平移动,所述夹取机构可转动地连接在所述导送机构上,所述弹簧探头连接在所述下压机构上并延伸至所述夹取机构的工件夹持区域,所述位移探头连接在所述提升机构上;所述方法为利用所述弹簧探头与所述位移探头上下配合顶触工件以检测其浮动范围。本发明取代了传统的手工检测,实现全程自动化的给料、上料及检测,大大提高了工作效率,解放了工人,精准高效。

    轮毂轴承轴向负游隙检测用的检测装置

    公开(公告)号:CN111750814B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202010626123.1

    申请日:2019-04-24

    IPC分类号: G01B21/16 B07C5/12

    摘要: 本申请是专利申请日为2019年04月24日,专利申请号为201910334797.1,发明名称为“一种轮毂轴承的轴向负游隙的检测方法”的发明专利申请的分案申请。本发明提供了一种轮毂轴承轴向负游隙检测用的检测装置。与现有技术相比,本发明的轮毂轴承轴向负游隙检测用的检测装置可以在轮毂轴承铆压工序之前进行轴向负游隙的检测,提前剔除不合格的装配单元,提高生产效率,节约生产成本;本发明的轮毂轴承轴向负游隙检测用的检测装置具有特定的构造,工作时以特定的检测步骤进行检测,操作简单、方便,检测精度高。

    平面推力轴承保持架游隙检测装置和方法

    公开(公告)号:CN109974650B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201910283942.8

    申请日:2019-04-10

    IPC分类号: G01B21/16 G01M13/04

    摘要: 平面推力轴承保持架游隙检测装置,包括定位机构和检测机构;定位机构旋转台和升降夹紧机构,升降夹紧机构上端从旋转台内露出,旋转台通过旋转驱动机构驱动旋转;升降夹紧机构夹紧底座,夹紧底座内套设有弹性升降台,弹性升降台内套设有推球机构,弹性升降台下端连接有第一升降气缸;推球机构包括工件定位台以及推球杆,工件定位台上沿周向均匀设有4个对应滚珠的顶球块,工件定位台的直径比平面推力轴承保持架直径小2~4mm;推球杆下端与第二升降气缸连接;检测机构包括升降板以及固定在升降板上的4个位移传感器,4个位移传感器对应4个顶球块设置,升降板与其上方的第三升降气缸连接。该装置操作简单,检测效率高,检测精度高。

    一种轮毂轴承的轴向负游隙检测方法

    公开(公告)号:CN109931901B

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN201910334797.1

    申请日:2019-04-24

    摘要: 轮毂轴承轴向负游隙检测方法,1)将组装好的轮毂轴承装配单元安装在检测装置上,然后第一气缸驱动底盘上升,当底盘与外圈的法兰盘的下端相抵时,再在底盘上安装压盘,夹紧外圈;2)由第二气缸驱动环形压板下压,对第一内圈施加一个恒定的下压力;3)启动电机,带动外圈转动,再由第一气缸驱动外圈下降至最低位置,然后由第一气缸驱动外圈上升至最高位置,记录外圈上升过程发生的位移L1;4)将第一内圈沿轴向压入,使第一内圈与第二内圈接触,记录第一内圈压入过程的位移L2;5)如果,L1≥L2,则不存在负游隙,直接判为不合格,更换第一内圈,重新检测;如果L1<L2,则负游隙值为L1‑L2,负游隙值不符合要求时,更换第一内圈,重新检测。

    圆柱滚子的超精密抛光方法

    公开(公告)号:CN110039381A

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201910328527.X

    申请日:2019-04-23

    IPC分类号: B24B1/00 B24B35/00

    摘要: 圆柱滚子超精密抛光方法,包括:采用双平面研抛设备对圆柱滚子的圆柱面进行粗抛光和精抛光;安装于双平面研抛设备的上抛光盘和下抛光盘均是半固着磨粒抛光盘;半固着磨粒抛光层中,包含:31~36wt%的α-氧化铝颗粒,22~25wt%的氧化铈颗粒,23~27wt%的胶体二氧化硅,余量为结合剂;所述α-氧化铝颗粒的粒径为0.02~15微米;所述氧化铈颗粒的粒径为0.01~5微米;所述结合剂由胶粘剂和添加剂组成,其中胶粘剂占60~80wt%。该方法具有抛光精度高,加工效率高,圆柱滚子表面光洁度高,且批一致性高的特点。