公开(公告)号：CN114846320A

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202080085745.6

申请日：2020-12-07

申请人： 日东电工株式会社

发明人： 三笠康之 ,  松林恭平 ,  田壶宏和 ,  村上洋介 ,  神丸刚

IPC分类号： G01N21/892

摘要： 能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在长条光学层叠体的第二识别信息双方。包括：第一工序，其检查第一长条光学膜(F1)而取得第一缺陷信息；第二工序，其在第一长条光学膜打印第一识别信息(M)；第三工序，其将第一缺陷信息与第一识别信息关联地存储；第四工序，其检查层叠有第一长条光学膜的长条光学层叠体(F2)而取得第二缺陷信息；第五工序，其在长条光学层叠体打印第二识别信息；第六工序，其将第二缺陷信息与第二识别信息关联地存储；第一识别信息以及第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

公开(公告)号：CN118613717A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202280090324.1

申请日：2022-11-21

申请人： 日东电工株式会社

发明人： 田中卓哉 ,  山下裕司 ,  自然浩次 ,  松林恭平

IPC分类号： G01N21/896 ,  G01N21/89

摘要： 提供能够高精度且高效地检查长条光学膜的长条光学膜的检查方法。本发明中检查的长条光学膜(F)被预先标记了与长条光学膜中的缺陷(D)的位置信息建立了关联的第一标识(M)。在本发明的宏观检查工序(ST2)中，通过读取第一标识，取得缺陷的位置信息，将拍摄视场比长条光学膜的宽度窄第一拍摄机构(6)的拍摄视场(VF1)的位置控制成能够拍摄该缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构(8)确定缺陷的准确的位置信息。在本发明的微观检查工序(ST3)中，基于在宏观检查工序中确定的缺陷的准确的位置信息，将与第一拍摄机构相比拍摄视场窄且拍摄倍率高的第二拍摄机构的拍摄视场(VF2)的位置控制成能够拍摄缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构(8)取得缺陷的详细信息。

公开(公告)号：CN114846321A

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202080085754.5

申请日：2020-12-07

申请人： 日东电工株式会社

发明人： 三笠康之 ,  松林恭平 ,  田壶宏和 ,  村上洋介 ,  神丸刚

IPC分类号： G01N21/892 ,  G02B5/30

摘要： 提供一种能够适当地管理功能膜的缺陷信息的功能膜的检查方法等。本发明包括：第一工序，其检查用于贴合在长条的偏振片或包含偏振片的长条的光学层叠体而制造长条的偏光膜(F2)的长条的功能膜(F1)，取得功能膜的缺陷信息；第二工序，其在功能膜的宽度方向的端部，每隔功能膜的长度方向的规定间隔打印识别信息；第三工序，其将功能膜的缺陷信息与识别信息关联地存储。