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公开(公告)号：CN118695946A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202280089588.5
申请日：2022-12-27
申请人： 日东电工株式会社
摘要： 本发明提供即使在贴合于保护对象的状态下供于气泡检查也能够实现对保护对象的准确检查的表面保护膜。本发明的实施方式的表面保护膜具备基材、和层叠于基材的粘接层。粘接层的与基材相反侧的表面满足下述式(1)。(式(1)中，S表示在表面形状评价试验中的白光干涉仪的测定视野面积；B‑BA表示在表面形状评价试验中得到的二值化前的二维图像中的黑色区域的面积；A‑WA表示在表面形状评价试验中得到的二值化后的二维图像中的白色区域的面积。)#imgabs0#
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公开(公告)号：CN117885359A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202311324125.5
申请日：2023-10-12
申请人： 日东电工株式会社
摘要： 本发明提供能够有效地制造精密地控制了起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度的光学层叠体的方法。本发明的实施方式的光学层叠体的制造方法包括：准备包含偏振片的第1层叠膜、和包含第1相位差层的第2层叠膜的工序；在该第2层叠膜的多个部位检查第1相位差层的理想状态的慢轴与实际的慢轴所成的轴交叉角度，判定第2层叠膜为合格品或不合格品的工序；将被判定为合格品的第2层叠膜与第1层叠膜贴合，得到层叠膜中间体的工序；检查层叠膜中间体中有无异物，判定层叠膜中间体为合格品或不合格品的工序；以及将被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁成给定尺寸，得到多个光学层叠体片的工序。
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公开(公告)号：CN110651205A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201880031905.1
申请日：2018-05-14
申请人： 日东电工株式会社
IPC分类号： G02B5/30 , G02F1/1335 , G02F1/13363 , G09F9/30 , H01L27/32 , H01L51/50
摘要： 本发明涉及一种圆偏振膜，其具备起偏镜、配置于该起偏镜的一侧的相位差膜、以及配置于该起偏镜的另一侧的保护层，上述相位差膜具有将直线偏振光转换成圆偏振光或椭圆偏振光的功能，其厚度为35μm以下，且上述相位差膜的两面在划痕试验中的破坏起始负载不同，将上述破坏起始负载高的一侧设为第1面、将低的一侧设为第2面时，上述起偏镜贴合于上述相位差膜的第1面。本发明的圆偏振膜的抗冲击性、再操作性优异，并且可抑制卷曲。
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公开(公告)号：CN118574725A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202280089587.0
申请日：2022-12-27
申请人： 日东电工株式会社
摘要： 本发明提供即使在贴合于保护对象的状态下供于异物检查及气泡检查也能够实现对保护对象的准确检查的表面保护膜。本发明的实施方式的表面保护膜具备基材、和层叠于基材的粘接层。粘接层的与基材相反侧的表面的最大谷深(Sv)的绝对值为500nm以下，对基材进行显微镜观察时，在100μm×100μm的观察区域中，最大费雷特直径为10μm以上的缺陷数少于3个。
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公开(公告)号：CN110562779B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201910480157.1
申请日：2019-06-04
申请人： 日东电工株式会社
摘要： 本发明的目的在于提供一种能够抑制偏光膜端部发生卷绕凹陷的偏光膜卷的制造方法。本发明的偏光膜卷制造方法的特征在于，包含将偏光膜卷绕于卷芯的工序，所述偏光膜的厚度为100μm以下，且长度为500m以上4000m以下，在所述工序中，以从卷绕量达到500m以上时开始至卷绕结束为止通过下式(1)算出的张力成为30N以上150N以下的方式，一边施加张力y，一边将偏光膜卷绕于卷芯。张力y＝a{1－(bx/400000)} (1)a：卷绕开始时的张力(a＞30N)b：锥度比(％)＝{(卷绕开始时的张力－假定卷绕4000m时的张力)/卷绕开始时的张力}×100x：卷绕量(500m≤x≤4000m)。
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公开(公告)号：CN115135996A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202180016062.X
申请日：2021-02-16
申请人： 日东电工株式会社
IPC分类号： G01N21/958 , G01B11/00 , G01M11/00 , B32B7/023 , B32B7/12
摘要： 本发明提供一种可检测出与以往相比格外微小的异物的光透射性积层体的检查方法。本发明光透射性积层体的检查方法是在将光透射性积层体逐片固定在半空中的状态下进行透射检查，检测光透射性积层体中的8μm～50μm尺寸的缺陷。例如，缺陷的检测包含以下步骤：将规定倍率的光学系统的焦点对准光透射性积层体的第一主面的表面，并以光学系统扫描光透射性积层体，而制作出缺陷的XY坐标图；使光学系统的焦点从光透射性积层体的第一主面的表面向厚度方向内侧偏移规定距离，并以光学系统扫描光透射性积层体，而制作出另一缺陷的XY坐标图；及，整合制作出的缺陷的XY坐标图。
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公开(公告)号：CN110651205B
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN201880031905.1
申请日：2018-05-14
申请人： 日东电工株式会社
IPC分类号： G02B5/30 , G02F1/1335 , G02F1/13363 , G09F9/30 , H01L27/32 , H01L51/50
摘要： 本发明涉及一种圆偏振膜，其具备起偏镜、配置于该起偏镜的一侧的相位差膜、以及配置于该起偏镜的另一侧的保护层，上述相位差膜具有将直线偏振光转换成圆偏振光或椭圆偏振光的功能，其厚度为35μm以下，且上述相位差膜的两面在划痕试验中的破坏起始负载不同，将上述破坏起始负载高的一侧设为第1面、将低的一侧设为第2面时，上述起偏镜贴合于上述相位差膜的第1面。本发明的圆偏振膜的抗冲击性、再操作性优异，并且可抑制卷曲。
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公开(公告)号：CN118613717A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202280090324.1
申请日：2022-11-21
申请人： 日东电工株式会社
IPC分类号： G01N21/896 , G01N21/89
摘要： 提供能够高精度且高效地检查长条光学膜的长条光学膜的检查方法。本发明中检查的长条光学膜(F)被预先标记了与长条光学膜中的缺陷(D)的位置信息建立了关联的第一标识(M)。在本发明的宏观检查工序(ST2)中，通过读取第一标识，取得缺陷的位置信息，将拍摄视场比长条光学膜的宽度窄第一拍摄机构(6)的拍摄视场(VF1)的位置控制成能够拍摄该缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构(8)确定缺陷的准确的位置信息。在本发明的微观检查工序(ST3)中，基于在宏观检查工序中确定的缺陷的准确的位置信息，将与第一拍摄机构相比拍摄视场窄且拍摄倍率高的第二拍摄机构的拍摄视场(VF2)的位置控制成能够拍摄缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构(8)取得缺陷的详细信息。
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