公开(公告)号：CN104634999B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201410610447.0

申请日：2014-11-03

Applicant: 日本电产理德股份有限公司

Inventor： 太田宪宏 ,  时政光伸 ,  广部幸祐 ,  津村耕平

IPC: G01R1/04

CPC classification number: G01R31/2808 ,  G01R1/07357 ,  G01R31/2801 ,  G01R31/2886

Abstract: 本发明提供能提高与基板相接触的接触端子的位置决定精密度的检测夹具。检测夹具包括：框架；电极体，具有电极；导电性接触端子，具有导线形状；支撑块，具有对向配置被检测基板的对向面，将接触端子的一端引导至在对向面上载置的被检测基板的检测点，另一端引导至电极，且沿与对向面交叉的移动方向，对于框架能相对移动；加压部，使支撑块远离电极体，且沿朝向被检测基板的方向进行加压；限制板片，从支撑块沿朝向框架的延伸设置方向延伸，架设在支撑块与框架之间，具有伸缩性，与对向面平行且与延伸设置方向交叉的第一方向的变形受限制。

公开(公告)号：CN105044391A

公开(公告)日：2015-11-11

申请号：CN201510190886.5

申请日：2015-04-21

Applicant: 日本电产理德股份有限公司

Inventor： 於势刚 ,  时政光伸

IPC: G01R1/02

Abstract: 本发明提供，易于减低电极被磨损而露出电线问题的电极结构体，使用该电极结构体的检测夹具及电极结构体的制造方法。电极结构体1包含：具有大约平坦的面11，在与面11交叉的方向上延长形成贯通孔12的绝缘性基材部13；在贯通孔12内插入一端部，为使该一端部的前端31位于比贯通孔12在面11上开口的开口部14更向内侧的位置，固定附着在贯通孔12的电线3；和用比电线3硬度大的镍对前端31镀金形成的电极2。

公开(公告)号：CN105044391B

公开(公告)日：2019-10-25

申请号：CN201510190886.5

申请日：2015-04-21

Applicant: 日本电产理德股份有限公司

Inventor： 於势刚 ,  时政光伸

IPC: G01R1/02

Abstract: 本发明提供，易于减低电极被磨损而露出电线问题的电极结构体，使用该电极结构体的检测夹具及电极结构体的制造方法。电极结构体1包含：具有大约平坦的面11，在与面11交叉的方向上延长形成贯通孔12的绝缘性基材部13；在贯通孔12内插入一端部，为使该一端部的前端31位于比贯通孔12在面11上开口的开口部14更向内侧的位置，固定附着在贯通孔12的电线3；和用比电线3硬度大的镍对前端31镀金形成的电极2。

公开(公告)号：CN104634999A

公开(公告)日：2015-05-20

申请号：CN201410610447.0

申请日：2014-11-03

Applicant: 日本电产理德股份有限公司

Inventor： 太田宪宏 ,  时政光伸 ,  广部幸祐 ,  津村耕平

IPC: G01R1/04

CPC classification number: G01R31/2808 ,  G01R1/07357 ,  G01R31/2801 ,  G01R31/2886

Abstract: 本发明提供能提高与基板相接触的接触端子的位置决定精密度的检测夹具。检测夹具包括：框架；电极体，具有电极；导电性接触端子，具有导线形状；支撑块，具有对向配置被检测基板的对向面，将接触端子的一端引导至在对向面上载置的被检测基板的检测点，另一端引导至电极，且沿与对向面交叉的移动方向，对于框架能相对移动；加压部，使支撑块远离电极体，且沿朝向被检测基板的方向进行加压；限制板片，从支撑块沿朝向框架的延伸设置方向延伸，架设在支撑块与框架之间，具有伸缩性，与对向面平行且与延伸设置方向交叉的第一方向的变形受限制。