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公开(公告)号：CN116057683A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202180062264.8
申请日：2021-09-07
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
IPC: H01L21/66
Abstract: 提供一种接触端子、检查夹具、检查装置、及制造方法，其中容易降低导体从筒状体脱落的可能性。接触端子Pr包括筒状体Pa、以及具有大致棒状形状的第一导体P1，其中形成有从筒状体Pa的一端朝向筒状体Pa的另一端侧延伸的第一狭缝SL1，在第一狭缝SL1的从另一端侧的端部向一端侧远离第一距离D1的位置设置有第一狭缝SL1的宽度变窄的狭小部N1，第一导体P1的棒状主体Pb1包括卡合部K1，所述卡合部K1位于第一狭缝SL1的另一端侧的端部与狭小部N1之间的区域即接纳部A1内，并朝向与第一狭缝SL1的宽度方向即X方向及筒状体的轴向Z垂直的Y方向突出到能够与狭小部N1产生干扰的位置。
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公开(公告)号：CN109313217B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201780035199.3
申请日：2017-04-26
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种检查辅助具及检查装置及探针，所述的检查辅助具(3)包括：电极(34a)；探针(Pr)，具有后端部(P2)及前端部(P1)；及支撑构件(31)，支撑探针(Pr)；探针(Pr)是包含：具有导电性的外侧筒状体(Pa)；及具有导电性的内侧筒状体(Pb)，所述内侧筒状体(Pb)是贯穿于外侧筒状体(Pa)的筒内；在外侧筒状体(Pa)形成有朝轴方向伸缩并且弹推后端部(P2)的外侧弹簧部(SO1、SO2)；在内侧筒状体(Pb)形成有朝轴方向伸缩的内侧弹簧部(SI1、SI2)；内侧筒状体(Pb)的一端为前端部(P1)，从外侧筒状体(Pa)的一端突出；支撑构件(31)是以通过外侧弹簧部(SO1、SO2)的弹推力使后端部(P2)接触电极(34a)的方式保持外侧筒状体(Pa)。
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公开(公告)号：CN109564243A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780046318.5
申请日：2017-07-24
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
Abstract: 检查辅助具包括：多个探针Pr，是具有大致棒状的形状，以各探针的前端部Pra接触基板100的多个检查点；支撑构件300，是以将探针Pr配置成使前端部Pra分别接触基板100的检查点的状态来支撑探针Pr；装置侧连接端子36，是电性连接于检查装置本体2；多个标准配置电极332，是与装置侧连接端子36导通，并以预先设定的标准配置来配置；以及转换块31，是具有互相相对向的第一面311及第二面312，并形成有第一电极E1及第二电极E2，第一电极E1是配置成在第一面311与探针Pr的后端部Prb接触，第二电极E2是配置成与第一电极E1导通并且在第二面312与标准配置相对应。
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公开(公告)号：CN104634999B
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201410610447.0
申请日：2014-11-03
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
IPC: G01R1/04
CPC classification number: G01R31/2808 , G01R1/07357 , G01R31/2801 , G01R31/2886
Abstract: 本发明提供能提高与基板相接触的接触端子的位置决定精密度的检测夹具。检测夹具包括：框架；电极体，具有电极；导电性接触端子，具有导线形状；支撑块，具有对向配置被检测基板的对向面，将接触端子的一端引导至在对向面上载置的被检测基板的检测点，另一端引导至电极，且沿与对向面交叉的移动方向，对于框架能相对移动；加压部，使支撑块远离电极体，且沿朝向被检测基板的方向进行加压；限制板片，从支撑块沿朝向框架的延伸设置方向延伸，架设在支撑块与框架之间，具有伸缩性，与对向面平行且与延伸设置方向交叉的第一方向的变形受限制。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109212274A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810716114.4
申请日：2018-07-03
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
IPC: G01R1/04
Abstract: 一种接触端子、检查夹具及检查装置。本发明包括由具有导电性的原材料形成为筒状的筒状体及由具有导电性的原材料分别形成为杆状的第一中心导体及第二中心导体，第一中心导体及第二中心导体包括第一杆状本体及第二杆状本体、直径大于第一杆状本体及第二杆状本体的第一被抱持部及第二被抱持部、以及直径大于第一杆状本体及第二杆状本体的第一隆起部及第二隆起部，第一中心导体及第二中心导体设置成将第一隆起部及第二隆起部的前端部分别插入至筒状体的连结部内，并且维持着在第一隆起部的前端面与第二隆起部的前端面之间隔着间隙而相对向的状态。
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公开(公告)号：CN110036300B
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201780073901.5
申请日：2017-11-28
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
Abstract: 本发明提供一种容易适当地制造的接触端子、检查夹具和检查装置。包含探针的接触端子具备：筒状体，由具有导电性的材料形成为筒状；中心导体，由具有导电性的材料形成为棒状，该中心导体具有插通至筒状体的棒状本体，筒状体具有：包含螺旋状体的弹簧部，所述螺旋状体是通过沿着所述筒状体的周面设置螺旋槽而构成；以及抱持部，外嵌于棒状本体的底端部而抱持所述棒状本体，该抱持部包含通过狭缝在筒状体的周方向上将一部分分断而成的筒状体的周壁，所述狭缝从构成弹簧部的螺旋槽的端部沿筒状体的轴方向延伸。
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公开(公告)号：CN110036300A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201780073901.5
申请日：2017-11-28
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
Abstract: 包含探针Pr的接触端子具备：筒状体Pa，由具有导电性的材料形成为筒状；中心导体Pb，Pc，由具有导电性的材料形成为棒状，该中心导体Pb，Pc具有插通至筒状体Pa的棒状本体Pb1，Pc1，筒状体Pa具有：包含螺旋状体的弹簧部Pe1，Pe2，所述螺旋状体是通过沿着其的周面设置螺旋槽Pg1，Pg2而构成；以及抱持部Pd1，Pd2，外嵌于棒状本体Pb1，Pc1的底端部而抱持所述棒状本体Pb1，Pc1，该抱持部Pd1，Pd2包含通过狭缝Ph1在筒状体的周方向上将一部分分断而成的筒状体Pa的周壁，所述狭缝Ph1从构成弹簧部Pe1，Pe2的螺旋槽Pg1，Pg2的端部沿筒状体的轴方向延伸。
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公开(公告)号：CN108603897A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201780010083.4
申请日：2017-01-16
Applicant: 日本电产理德股份有限公司
Inventor： 太田宪宏
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明提供一种可减少伴随检查的磁场的产生的接触端子、检查治具以及检查装置。接触端子Pr具备具有导电性的筒状的外侧筒状体Pa、及插通在外侧筒状体Pa的筒内的具有导电性的筒状的内侧筒状体Pb，在外侧筒状体Pa中形成有在此外侧筒状体Pa的轴方向上伸缩，并且卷绕方向为第一方向的螺旋状的外侧第一弹簧部SO1，在内侧筒状体Pb中形成有在此内侧筒状体Pb的轴方向上伸缩，并且卷绕方向为与第一方向为相反方向即第二方向的螺旋状的内侧第一弹簧部SI1。
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