Patent search ap:("日本电子株式会社") AND inv:"森忍" Page 1

1.

发明公开
试样保持器、试样保持器套件以及试样制作方法审中-公开

公开(公告)号：CN118366834A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410074927.3

申请日：2024-01-18

Applicant: 日本电子株式会社

Inventor： 根岸勉 , 森忍

IPC: H01J37/20 , H01J37/30 , G01N1/28 , G01N1/32 , B24B37/27 , B24B41/06

Abstract: 提供一种能够调整试样的倾斜度的试样保持器。试样保持器(100)包含：保持器主体(10)；试样台(20)，其固定试样(S)；以及第1柱塞(30)和第2柱塞(40)，其作为将试样台(20)可滑动地按压到保持器主体(10)的按压构件，在试样台(20)设置有贯通孔(24)，试样台(20)通过使插入于贯通孔(24)的调整夹具(2)倾斜，来相对于保持器主体(10)倾斜。

Patent Agency Ranking