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公开(公告)号：CN1097506C
公开(公告)日：2003-01-01
申请号：CN96117956.2
申请日：1996-12-25
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: B26F1/02 , H05K3/0044 , Y10T83/4491 , Y10T83/461 , Y10T83/4632 , Y10T83/764 , Y10T83/8737 , Y10T83/874 , Y10T83/8746
Abstract: 一种板材加工设备(10)具有一模具(20)，用于在其上置放有待加工的板材(16)，模具(20)若在一在箭头B所示方向上从事运动的下模具座(12)上面并具有一用于板材(16)的加工型板；多个冲头(22)，装在一上冲头座(14)上，用于按照加工型板(18)在一预定数量的加工循环中与模具(20)协同动作而加工板材(16)；以及一给进机构(24)，用于每当板材(16)由模具(20)和各冲头(22)予以加工时沿水平方向推动模具(20)以使板材(16)上的一加工位置对齐于各冲头(22)。板材加工设备(10)结构比较简单并可以高精度加工各种各样的板材。
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公开(公告)号：CN1157204A
公开(公告)日：1997-08-20
申请号：CN96117956.2
申请日：1996-12-25
IPC: B26F1/02
CPC classification number: B26F1/02 , H05K3/0044 , Y10T83/4491 , Y10T83/461 , Y10T83/4632 , Y10T83/764 , Y10T83/8737 , Y10T83/874 , Y10T83/8746
Abstract: 一种板材加工设备(10)具有一模具(20)，用于在其上置放有待加工的板材(16)，模具(20)若在一在箭头B所示方向上从事运动的下模具座(12)上面并具有一用于板材(16)的加工型板；多个冲头(22)，装在一上冲头座(14)上，用于按照加工型板(18)在一预定数量的加工循环中与模具(20)协同动作而加工板材(16)；以及一给进机构(24)，用于每当板材(16)由模具(20)和各冲头(22)予以加工时沿水平方向推动模具(20)以使板材(16)上的一加工位置对齐于各冲头(22)。板材加工设备(10)结构比较简单并可以高精度加工各种各样的板材。
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公开(公告)号：CN100574864C
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200580018832.5
申请日：2005-03-31
Applicant: 日本碍子株式会社
IPC: B01J19/00
CPC classification number: B01J19/0046 , B01J2219/00378 , B01J2219/00529 , B01J2219/00533 , B01J2219/00585 , B01J2219/00596 , B01J2219/00605 , B01J2219/00612 , B01J2219/00628 , B01J2219/00637 , B01J2219/00659 , B01J2219/00662 , B01J2219/00677 , B01J2219/00693 , B01J2219/00722 , B01J2219/00725 , B01J2219/0074 , B01L3/0268 , B01L2200/143 , B01L2400/0439 , C40B40/06 , C40B40/10 , C40B40/14 , C40B60/14 , G01N2035/1041
Abstract: 提供一种制备微阵列的方法，包括以下步骤：(A)将从出口(4)释放到外部的液体样本(S)喷射到检查载体(65)上，来形成检查斑点(75)，对生成的检查斑点(75)的质量进行检查，来确定检查斑点(75)是有缺陷的还是良好的，并且如果存在，检测有缺陷释放单元(51)；(B)使检测出的有缺陷释放单元(51)停止从出口(4)向外部释放液体样本(S)，来防止从有缺陷释放单元(51)形成有缺陷样本斑点(71)；(C)使用良好释放单元(52)在载体(60)上形成良好样本斑点(72)，来提供良好微阵列(102)，其上良好斑点(72)以预定式样线列在载体上；和(D)在良好微阵列(102)上的在步骤(B)中没有形成斑点的有缺陷斑点(71)的位置处形成应在最初形成的良好斑点(72)，由此提供包括以预定式样线列在载体(60)上的良好斑点(72)的成品微阵列。
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公开(公告)号：CN1964780A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200580018832.5
申请日：2005-03-31
Applicant: 日本碍子株式会社
IPC: B01J19/00
CPC classification number: B01J19/0046 , B01J2219/00378 , B01J2219/00529 , B01J2219/00533 , B01J2219/00585 , B01J2219/00596 , B01J2219/00605 , B01J2219/00612 , B01J2219/00628 , B01J2219/00637 , B01J2219/00659 , B01J2219/00662 , B01J2219/00677 , B01J2219/00693 , B01J2219/00722 , B01J2219/00725 , B01J2219/0074 , B01L3/0268 , B01L2200/143 , B01L2400/0439 , C40B40/06 , C40B40/10 , C40B40/14 , C40B60/14 , G01N2035/1041
Abstract: 提供一种制备微阵列的方法，包括以下步骤：(A)将从出口(4)释放到外部的液体样本(S)喷射到检查载体(65)上，来形成检查斑点(75)，对生成的检查斑点(75)的质量进行检查，来确定检查斑点(75)是有缺陷的还是良好的，并且如果存在，检测有缺陷释放单元(51)；(B)使检测出的有缺陷释放单元(51)停止从出口(4)向外部释放液体样本(S)，来防止从有缺陷释放单元(51)形成有缺陷样本斑点(71)；(C)使用良好释放单元(52)在载体(60)上形成良好样本斑点(72)，来提供良好微阵列(102)，其上良好斑点(72)以预定式样线列在载体上；和(D)在良好微阵列(102)上的在步骤(B)中没有形成斑点的有缺陷斑点(71)的位置处形成应在最初形成的良好斑点(72)，由此提供包括以预定式样线列在载体(60)上的良好斑点(72)的成品微阵列。
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