公开(公告)号：CN103675890A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310370855.9

申请日：2013-08-23

Applicant: 日立民用电子株式会社

Inventor： 高橋勲 ,  山田直之 ,  森久起 ,  泉田龙男

IPC: G01T1/29

CPC classification number: H04N5/30

Abstract: 提供一种能够恰当地确定辐射源的位置的辐射测定装置以及辐射测定方法。具备：辐射检测器（101），设置在屏蔽体（101）的内部，检测经由上述入射孔（105h）入射的放射线；测距仪（300），根据从辐射检测器（101）输入的检测信号测定在被拍摄体中的辐射源的分布；光学照相机（200），拍摄在入射孔（105h）的视野内存在的被拍摄体；控制装置（401），对辐射源的分布和光学图像进行重叠而生成合成图像；转动单元（500），通过自动或者手动转动上述屏蔽体，改变成为放射线的测定对象的区域；控制装置（401），将上述合成图像与转动单元（500）的转动角度对应起来显示在显示装置（404）上。

公开(公告)号：CN102985849A

公开(公告)日：2013-03-20

申请号：CN201180034124.6

申请日：2011-07-15

Applicant: 日立民用电子株式会社

Inventor： 柳主鉉 ,  山田直之 ,  井上慎一 ,  蛭田昭浩 ,  大久保千寻

IPC: G01T1/24 ,  H01L27/14 ,  H01L31/09

CPC classification number: H01L31/02016 ,  G01T1/243 ,  H01L31/022408 ,  H01L31/115

Abstract: 本发明提供一种在稠密地配置放射线检测器的情况下也能够减小不灵敏区域的放射线检测装置。放射线检测装置将夹着基板（20）的半导体元件（10）之间的距离设为XG1、将从一个放射线检测器（1）的半导体元件（10）到与该半导体元件（10）相对置且与一个放射线检测器（1）相邻接的其它的放射线检测器（1）的半导体元件（10）为止的距离设为XG2，将排列在Y方向的半导体元件（10）之间的距离设为YG1，将半导体元件间距（110）的横间距设为a、纵间距设为b、半导体元件（10）的放射线入射的面的宽度设为c、长度设为d、位于半导体元件（10）的两端部的元件内像素区域（10a）的长度设为e、被位于多个半导体元件（10）的两端部的元件内像素区域（10a）夹住的多个元件内像素区域（10a）的长度设为f的情况下，满足如下关系：c=a-(XG1+XG2)/2、d=b-YG1=2e+(n-2)f、e=b/n-YG1/2、f＝b/n。

公开(公告)号：CN101806915B

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN200910259161.1

申请日：2009-12-15

Applicant: 日立民用电子株式会社

Inventor： 柳主铉 ,  须永义则 ,  川内秀贵 ,  川口常昭 ,  高桥勋 ,  井上慎一 ,  山田直之 ,  小林雅彦

IPC: G01T1/24

CPC classification number: G01T1/243

Abstract: 本发明提供一种能够以高密度排列的放射线检测器。本发明的放射线检测器(1)具备：可检测放射线的半导体元件；固定有半导体元件的基板(20)；以及用半导体元件的邻接部分支撑基板(20)的支撑部件。