公开(公告)号：CN114236198A

公开(公告)日：2022-03-25

申请号：CN202110966250.0

申请日：2021-08-23

Applicant: 旺矽科技股份有限公司

Inventor： 谢明翔 ,  周嘉南 ,  魏豪 ,  刘佳容 ,  余佳安

IPC: G01R1/073

Abstract: 一种探针组件，用以测试电路板的高速信号传输线，包含两根用以提供高频差动测试信号的弹簧针，且弹簧针二侧没有金属层(接地层)。实验发现，当两根弹簧针在对待侧物进行测试时，测试信号会耦合到两侧的金属层而产生辐射共振，导致在某个特定频带上的测试信号发生损失，进而使得探针组件的有效频宽下降。本发明的探针组件的弹簧针二侧的金属层经过削减，因而可以达到避免上述辐射共振现象发生的功效。

公开(公告)号：CN114236198B

公开(公告)日：2024-04-02

申请号：CN202110966250.0

申请日：2021-08-23

Applicant: 旺矽科技股份有限公司

Inventor： 谢明翔 ,  周嘉南 ,  魏豪 ,  刘佳容 ,  余佳安

IPC: G01R1/073

Abstract: 一种探针组件，用以测试电路板的高速信号传输线，包含两根用以提供高频差动测试信号的弹簧针，且弹簧针二侧没有金属层(接地层)。实验发现，当两根弹簧针在对待侧物进行测试时，测试信号会耦合到两侧的金属层而产生辐射共振，导致在某个特定频带上的测试信号发生损失，进而使得探针组件的有效频宽下降。本发明的探针组件的弹簧针二侧的金属层经过削减，因而可以达到避免上述辐射共振现象发生的功效。