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公开(公告)号：CN111721978B
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN201910202089.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 旺矽科技股份有限公司 , 深圳市海思半导体有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明提供了一种探针卡包含一空间转换器以及一探针头。空间转换器的一第一表面，形成有多个金属垫以及多个无金属垫区。探针头设置于空间转换器的第一表面，而探针头包含有一上导板、一下导板、多个信号探针、多个接地探针、多个仿真探针、多个金属层以及多个金属开口区。信号探针与接地探针，贯穿且凸出于上导板以及下导板，以分别电连接空间转换器的金属垫，而仿真探针则贯穿但无需凸出于下导板，且仿真探针电连接接地探针，且仿真探针被设置于空间转换器的无金属垫区，以提升探针卡测试品质。
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公开(公告)号：CN108732393B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN201810216758.7
申请日：2018-03-15
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种探针卡，用以对一待测物进行检测，包括：设有多个线路的电路板；探针模块，其包括有至少一探针，具有悬臂梁、针臂座、针尖座以及针尖，悬臂梁具有两相背对的第一面与第二面，第二面朝向待测物；针臂座设置于第一面，用以与一线路电性连接；针尖座设置于第二面；针尖设置于针尖座背离第二面的表面，所述针尖用以与待测物接触；以及导电框，以导电材料制成，并与另一线路电性连接，传导框环设于至少一探针的周围，传导框与至少一探针保有一间距。
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公开(公告)号：CN118362860A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202311462828.4
申请日：2023-11-06
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种电路板检测设备，其包含基座、卡盘组件、第一龙门支架以及第一探针组件。卡盘组件设置于基座的上表面，其包含设置于基座的上表面的线性驱动模块、设置于线性驱动模块上的旋转马达、以及设置于旋转马达上的承载盘。承载盘用以承载电路板且可受线性驱动模块驱动而沿第一轴向移动，此外还可受旋转马达驱动而相对于第一旋转轴旋转。第一龙门支架固设于基座的上表面且包含第一横梁。第一横梁沿垂直于第一轴向的一第二轴向延伸而横跨于线性驱动模块之上且包含一第一探针导轨。第一探针组件设置于第一探针导轨而可沿第二轴向移动。
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公开(公告)号：CN114236198A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202110966250.0
申请日：2021-08-23
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 一种探针组件，用以测试电路板的高速信号传输线，包含两根用以提供高频差动测试信号的弹簧针，且弹簧针二侧没有金属层(接地层)。实验发现，当两根弹簧针在对待侧物进行测试时，测试信号会耦合到两侧的金属层而产生辐射共振，导致在某个特定频带上的测试信号发生损失，进而使得探针组件的有效频宽下降。本发明的探针组件的弹簧针二侧的金属层经过削减，因而可以达到避免上述辐射共振现象发生的功效。
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公开(公告)号：CN118584162A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410238561.9
申请日：2024-03-01
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种可调点测位置的探针装置及其固定探针、活动探针，可调点测位置的探针装置包括有具有第一边与第二边的固定探针、第一活动探针及第二活动探针。固定探针具有第一针芯、第一介电层及第一外导体层的第一同轴结构。第一活动探针设置在固定探针的第一边，包括有接地针芯及第一延伸结构，其具有第一平面结构、第一上表面及第一下表面，第一活动探针经由第一位移运动使第一平面结构与固定探针电性接触。第二活动探针设置在固定探针的第二边，包括有第二针芯、第二介电层及第二外导体层的第二同轴结构，以及第二延伸结构，其具有第二平面结构、第二上表面及第二下表面，第二活动探针经由第二位移运动使第二平面结构与固定探针电性接触。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112611916A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011028953.0
申请日：2020-09-25
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种可调式探针装置，包含有一固定探针及一活动探针，且至少其中之一为具有同轴结构的讯号探针，活动探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。本发明揭示另一种可调式探针装置，包含有一用于接地的第一活动探针以及具有同轴结构的一固定探针及一第二活动探针，且能选择性地以二活动探针其中的任一作为一作用探针，使得作用探针与固定探针的点触端位于同一平面以同时点触待测物的二导电接点，且作用探针能线性滑移地以其接地单元抵接于固定探针的接地单元。由此，本发明的探针间距可调整，因此可降低电路板阻抗测试设备的成本。
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公开(公告)号：CN111707850A
公开(公告)日：2020-09-25
申请号：CN202010024976.8
申请日：2020-01-10
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种探针装置，适于配置在一电路装置上，包括一探针座、多个信号探针、多个接地探针以及多个辅助探针。探针座具有一针身区以及一针尖区。探针座具有位于针尖区的多个辅助穿孔。各信号探针及各接地探针包括一针体以及套设于针体的一弹簧套筒。辅助探针配置并电性连接于探针座，其中辅助穿孔与信号探针的距离小于辅助探针与信号探针的距离。辅助探针与信号探针的距离小于接地探针与信号探针的距离。信号探针在针身区的等效电容值不等于信号探针在针尖区的等效电容值，且信号探针在针身区的阻抗值匹配于信号探针在针尖区的阻抗值，提升探针装置的电性效果及测量速度。
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公开(公告)号：CN108732393A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810216758.7
申请日：2018-03-15
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种探针卡，用以对一待测物进行检测，包括：设有多个线路的电路板；探针模块，其包括有至少一探针，具有悬臂梁、针臂座、针尖座以及针尖，悬臂梁具有两相背对的第一面与第二面，第二面朝向待测物；针臂座设置于第一面，用以与一线路电性连接；针尖座设置于第二面；针尖设置于针尖座背离第二面的表面，所述针尖用以与待测物接触；以及导电框，以导电材料制成，并与另一线路电性连接，传导框环设于至少一探针的周围，传导框与至少一探针保有一间距。
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公开(公告)号：CN104714055A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201410722997.1
申请日：2014-12-03
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
CPC classification number: G01R1/0466
Abstract: 一种检测治具，包含有一基板、一载板、二导接件及一补偿件。该基板上布设有一讯号线路及一接地线路。该载板设置于该基板上，具有一基材及一布设于该基材的导接线路，该基材以绝缘体制成，而该导接线路以导体制成，该基材有一讯号贯孔正对该讯号线路、一接地贯孔该接地线路、及复数补偿孔。该些导接件以导体制成分别设于该讯号贯孔与该接地贯孔中，且该二导接件的一端分别与该讯号线路及该接地线路接抵，而另一端分别凸出至该载板外。该补偿件以导体制成且设置于其中一该补偿孔中，并通过该导接线路与位于该接地贯孔中的导接件电性连接。
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公开(公告)号：CN114236198B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202110966250.0
申请日：2021-08-23
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 一种探针组件，用以测试电路板的高速信号传输线，包含两根用以提供高频差动测试信号的弹簧针，且弹簧针二侧没有金属层(接地层)。实验发现，当两根弹簧针在对待侧物进行测试时，测试信号会耦合到两侧的金属层而产生辐射共振，导致在某个特定频带上的测试信号发生损失，进而使得探针组件的有效频宽下降。本发明的探针组件的弹簧针二侧的金属层经过削减，因而可以达到避免上述辐射共振现象发生的功效。
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