一种预检装置及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115144409A

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202210762373.7

    申请日:2022-06-30

    IPC分类号: G01N21/95 G01N21/01

    摘要: 本发明提供了一种预检装置及方法,该预检装置用于对晶圆进行预检和校正,晶圆包括基底片以及芯粒,预检装置包括:工作台;活动载台,且用于承载晶圆;第一相机组件,用于对晶圆进行拍摄以获取晶圆的第一检测图像;第二相机组件,用于对晶圆进行拍摄以获取芯粒的第二检测图像;分光元件,分光元件用于将第一检测图像的传输光路导向至第一相机组件,以及,分光元件用于将第二检测图像的传输光路导向至第二相机组件。通过本申请,第一相机组件不仅能够对晶圆进行预检,以减少后续检测模块中的工作量,同时还能辅助第二相机组件对晶圆进行位置校准,以使第二相机组件的校准效果更好,且校准效率更高效。

    一种预检装置
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217561364U

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202221672757.1

    申请日:2022-06-30

    IPC分类号: G01N21/95 G01N21/01

    摘要: 本实用新型提供了一种预检装置,该预检装置用于对晶圆进行预检和校正,晶圆包括基底片以及芯粒,预检装置包括:工作台;活动载台,且用于承载晶圆;第一相机组件,用于对晶圆进行拍摄以获取晶圆的第一检测图像;第二相机组件,用于对晶圆进行拍摄以获取芯粒的第二检测图像;分光元件,分光元件用于将第一检测图像的传输光路导向至第一相机组件,以及,分光元件用于将第二检测图像的传输光路导向至第二相机组件。通过本申请,第一相机组件不仅能够对晶圆进行预检,以减少后续检测模块中的工作量,同时还能辅助第二相机组件对晶圆进行位置校准,以使第二相机组件的校准效果更好,且校准效率更高效。