芯片验证方法及装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN116306396A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310263679.2

    申请日:2023-03-10

    IPC分类号: G06F30/33 G06F11/26

    摘要: 本公开提供了一种芯片验证方法及装置、设备和介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术领域。实现方案为:获取指令集和目标验证选项;基于所述目标验证选项,获取目标约束信息,所述目标约束信息包括目标约束条件和目标约束条件的类型;基于所述目标约束条件的类型,获取与所述目标约束信息对应的随机配置指令的模板;基于所述随机配置指令的模板和所述目标约束条件,生成可执行的随机配置指令;执行所述随机配置指令,以从所述指令集中随机确定至少一个目标指令,其中,所述至少一个目标指令符合所述目标约束条件;利用待验证芯片执行所述至少一个目标指令;以及基于所述至少一个目标指令的执行结果,确定针对所述待验证芯片的验证结果。

    一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113656227B

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202110932656.7

    申请日:2021-08-13

    发明人: 高超 凌霄

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本公开提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,涉及人工智能领域,尤其涉及集成电路领域。具体实现方案为:基于预先构建的默认序列,针对当前测试接口构建对应的测试序列;基于当前测试接口对应的测试序列,在当前测试接口上对待测芯片进行测试,得到待测芯片针对当前测试接口返回的测试结果;重复执行上述操作,直到得到待测芯片针对各个测试接口返回的测试结果;基于待测芯片针对各个测试接口返回的测试结果,判定待测芯片通过验证或者未通过验证。本申请实施例可以针对不同的接口更加方便地构建出对应的测试序列,从而可以简化用户操作,减少编写测试序列的工作量;并且能够缩短验证时间,增强可扩展性。

    芯片验证方法及装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN118821676A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202310371904.4

    申请日:2023-04-07

    发明人: 杨凯 王京 凌霄

    IPC分类号: G06F30/33

    摘要: 本公开提供了一种芯片验证方法及装置、设备和介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术领域。实现方案为:获取目标指令集,所述目标指令集包括第一指令和至少一个第二指令,其中,所述第一指令依赖于所述至少一个第二指令;基于所述至少一个第二指令,建立所述第一指令相应的前序依赖指令集;利用待验证芯片执行所述目标指令集;针对所述至少一个第二指令中的每个第二指令,响应于确定该第二指令执行完毕,将该第二指令从所述第一指令相应的前序依赖指令集中删除;以及在所述第一指令执行之前,响应于确定所述第一指令相应的前序依赖指令集不为空集,确定针对所述待验证芯片的验证结果为不通过。

    芯片验证方法及装置、设备和介质

    公开(公告)号:CN118821675A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202310370160.4

    申请日:2023-04-07

    发明人: 杨凯 王京 凌霄

    IPC分类号: G06F30/33

    摘要: 本公开提供了一种芯片验证方法及装置、设备和介质,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术领域。实现方案为:获取与多个处理核心中的每个处理核心对应的初始指令,每个初始指令依赖于至少一个其他初始指令;基于与多个处理核心对应的多个初始指令之间的第一依赖关系,确定多个处理核心之间的第二依赖关系;基于第二依赖关系,确定依赖于第一处理核心的至少一个第一依赖核心;从多个候选指令中确定针对第一处理核心的第一新增指令,其中,第一新增指令不依赖于与至少一个第一依赖核心对应的初始指令;利用芯片执行多个初始指令和第一新增指令;以及基于多个初始指令和第一新增指令的执行结果,确定针对芯片的验证结果。