用于半导体生产设备的净化气

    公开(公告)号:CN1214444C

    公开(公告)日:2005-08-10

    申请号:CN01802037.2

    申请日:2001-07-17

    CPC classification number: H01J37/32862 C23C16/4405

    Abstract: 本发明涉及(1)用于半导体生产设备的净化气,通过以一特定比例使SF6和F2、NF3中的一种或两种以及惰性气体混合获得该气体;(2)用于半导体生产设备的净化气,该气体以一特定比例混合SF6和F2、NF3中的一种或两种以及惰性气体和含氧气体得到;(3)使用所述气体净化半导体生产设备的方法;(4)包括使用所述净化气的净化步骤的生产半导体器件的方法。使用本发明用于半导体生产设备的蚀刻速率高的净化气,可以以优异的性价比对半导体生产设备进行纯化并维其运行。

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