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公开(公告)号:CN111452514B
公开(公告)日:2021-01-12
申请号:CN202010337720.2
申请日:2020-04-26
申请人: 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号: B41J3/407 , B41J3/01 , B41J29/393 , G01N21/89
摘要: 本发明公开偏光膜整线打标系统及方法,用于偏光膜生产线中,包含有,延伸复合段打标装置,其具有第一自动光学检测单元、二维码喷码机及第一解码器;涂布前段打标装置,其具有第二自动光学检测单元及第二解码器;以及,涂布后段打标装置,其具有第三自动光学检测单元、第三解码器及打标机。本发明的有益效果在于:具有缺陷检测精度高的特点。隔段打标精度高。能够准确地确定膜缺陷所在的具体层位置。并且根据膜缺陷的形成位置、范围程度等,判断偏光膜的成型质量,方便后端裁切剔除不良。
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公开(公告)号:CN111452514A
公开(公告)日:2020-07-28
申请号:CN202010337720.2
申请日:2020-04-26
申请人: 杭州利珀科技有限公司
IPC分类号: B41J3/407 , B41J3/01 , B41J29/393 , G01N21/89
摘要: 本发明公开偏光膜整线打标系统及方法,用于偏光膜生产线中,包含有,延伸复合段打标装置,其具有第一自动光学检测单元、二维码喷码机及第一解码器;涂布前段打标装置,其具有第二自动光学检测单元及第二解码器;以及,涂布后段打标装置,其具有第三自动光学检测单元、第三解码器及打标机。本发明的有益效果在于:具有缺陷检测精度高的特点。隔段打标精度高。能够准确地确定膜缺陷所在的具体层位置。并且根据膜缺陷的形成位置、范围程度等,判断偏光膜的成型质量,方便后端裁切剔除不良。
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