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公开(公告)号:CN113589289A
公开(公告)日:2021-11-02
申请号:CN202110783539.9
申请日:2021-07-12
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了提取SuperDARN雷达电离层对流图像不对称性的方法及系统,本发明方法包括以下步骤:步骤1:获取SuperDARN雷达观测数据和OMNI卫星观测数据并进行预处理;步骤2:将OMNI卫星观测数据和SuperDARN雷达观测数据匹配并对齐构成数据集;步骤3:使用曲面拟合法拟合出最优曲面并通过插值方式绘制对流图像;步骤4:通过最大电势点和最小电势点的位置,计算斜率和对应的倾斜角,对对流图像进行翻转;步骤5:使用曲面拟合法绘制翻转后的对流图像;步骤6:通过相关参数对原始图像和翻转图像进行评估;步骤7:采用不对称性指标对对流图像的不对称性进行评价。本发明能客观地说明对流图像的两个半球间的不对称性。
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公开(公告)号:CN113589289B
公开(公告)日:2024-01-09
申请号:CN202110783539.9
申请日:2021-07-12
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了提取SuperDARN雷达电离层对流图像不对称性的方法及系统,本发明方法包括以下步骤:步骤1:获取SuperDARN雷达观测数据和OMNI卫星观测数据并进行预处理;步骤2:将OMNI卫星观测数据和SuperDARN雷达观测数据匹配并对齐构成数据集;步骤3:使用曲面拟合法拟合出最优曲面并通过插值方式绘制对流图像;步骤4:通过最大电势点和最小电势点的位置,计算斜率和对应的倾斜角,对对流图像进行翻转;步骤5:使用曲面拟合法绘制翻转后的对流图像;步骤6:通过相关参数对原始图像和翻转图像进行评估;步骤7:采用不对称性指标对对流图像的不对称性进行评价。本发明能客观地说明对流图像的两个半球间的不对称性。
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