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公开(公告)号：CN1290081C
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN00803460.5
申请日：2000-11-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B5/48 , G11B5/1871 , G11B5/488 , G11B5/4893 , G11B5/531 , G11B5/60 , G11B15/61 , G11B15/64 , Y10T29/49039 , Y10T29/4913 , Y10T29/49133 , Y10T29/49135
Abstract: 头相对高度Y对于Y’的头装置、在研磨量ΔGD进行ΔGD’的加工的情况下，对于与头相对高度Y’大致相同的头装置，利用预先求出的、研磨前后的头前面曲面顶点与头间隙的距离Bo、与间隙深度尺寸GD之关系求出对应于研磨后Bo目标值的Bo1，将其作为上述头相对高度Y’的头装置之Bo1。由于这一点，由于预先求出对应于目标值的Bo1而进行头芯片前面的研磨，故可效率良好地制造把研磨后Bo纳入到规格值内的头装置，可使成品率提高。
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公开(公告)号：CN1391691A
公开(公告)日：2003-01-15
申请号：CN00816028.7
申请日：2000-11-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B5/187
CPC classification number: G11B5/531 , G11B5/1335 , G11B5/1871
Abstract: 研磨研磨前的磁隙深度尺寸为GB1的磁头芯体(2)的前面，除去研磨部分(6)，形成研磨后的磁隙深度尺寸为GB2的磁头芯体(2)的前面形状的磁头制造方法，特征在于，研磨前的磁头芯体的磁隙深度尺寸GB1为25μm以下。由此，能提高满足磁隙深度尺寸GB2以及磁头磁隙和芯体前面的曲面顶点之间距离两个方面额定值的磁头的成品率，能提高减小磁隙深度尺寸GB2且提高磁头性能的磁头的生产率。
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公开(公告)号：CN1339153A
公开(公告)日：2002-03-06
申请号：CN00803460.5
申请日：2000-11-29
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B5/48 , G11B5/1871 , G11B5/488 , G11B5/4893 , G11B5/531 , G11B5/60 , G11B15/61 , G11B15/64 , Y10T29/49039 , Y10T29/4913 , Y10T29/49133 , Y10T29/49135
Abstract: 头相对高度Y对于Y’的头装置、在研磨量ΔGD进行ΔGD’的加工的情况下,对于与头相对高度Y’大致相同的头装置,利用预先求出的、研磨前后的头前面曲面顶点与头间隙的距离Bo、与间隙深度尺寸GD之关系求出对应于研磨后Bo目标值的Bo1,将其作为上述头相对高度Y’的头装置之Bo1。由于这一点,由于预先求出对应于目标值的Bo1而进行头芯片前面的研磨,故可效率良好地制造把研磨后Bo纳入到规格值内的头装置,可使成品率提高。
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