公开(公告)号：CN115698834A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202180040706.9

申请日：2021-06-08

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 中村将 ,  稻田安寿

IPC: G02F1/025 ,  G02F2/02 ,  G02F1/365 ,  G01N21/01 ,  G01N21/27 ,  H01S3/00

Abstract: 双光频梳发生装置(201)具备：半导体基板(14)；第1光频梳激光源(20)，包括第1谐振器；第2光频梳激光源(21)，包括第2谐振器，光脉冲的重复频率不同于第1光频梳激光源；两个以上的输出部，包括输出部(50、51)；光波导(20w)，将第1光频梳激光源(20)与输出部(50)连结；光波导(21w)，将第2光频梳激光源(21)与输出部(51)连结；以及光波导(40)，从光波导(20w)分支，与光波导(21w)耦合。第1光频梳激光源(20)、第2光频梳激光源(21)、两个以上的输出部、光波导(20w、21w、40)被集成于半导体基板(14)。

公开(公告)号：CN118355245A

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202280079438.6

申请日：2022-07-29

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 冈本慎也 ,  能泽克弥 ,  中村将 ,  稻田安寿

IPC: G01C3/06 ,  G01S7/481 ,  G01S17/10 ,  G01S17/32 ,  G02F1/37

Abstract: 测距系统(100)具备：光源(11)；波长转换模块(12)，通过对从光源(11)射出的光(L0)的基波(L1)的一部分进行波长转换，从而产生作为引导光向对象物(S)照射的高次谐波(G1)；光电探测器(14)，检测穿过波长转换模块(12)后的基波(L1)被对象物(S)反射所产生的反射光(L1r)；以及信号处理部(15)，基于光电探测器(14)的检测结果来计算到对象物(S)为止的距离。

公开(公告)号：CN119301828A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202380043994.2

申请日：2023-05-26

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 中村将 ,  冈本慎也 ,  久田和也 ,  稻田安寿 ,  能泽克弥

IPC: H01S3/13 ,  H01S3/00 ,  H01S3/23

Abstract: 激光装置(100)具备：第一光梳激光器(10)；第二光梳激光器(20)，重复频率与第一光梳激光器(10)的重复频率不同；检测部(70)，检测由来自第一光梳激光器(10)的输出光和来自第二光梳激光器(20)的输出光形成的干涉光；以及控制电路(90)。控制电路(90)基于检测部(70)的输出来控制作为第一光梳激光器(10)的载波包络偏移频率的第一CEO频率、以及作为第二光梳激光器(20)的载波包络偏移频率的第二CEO频率中的至少一方，从而使作为第一CEO频率与第二CEO频率之差的差频变化。

公开(公告)号：CN112236084A

公开(公告)日：2021-01-15

申请号：CN201980037473.X

申请日：2019-11-08

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 中村将 ,  安藤贵真 ,  鸣海建治 ,  是永继博

IPC: A61B10/00 ,  G01N21/17 ,  A61B5/026 ,  A61B5/1455

Abstract: 本公开的一个方式所涉及的光计测装置具备光源、光检测器、控制电路和信号处理电路。所述控制电路使所述光源出射向测定对象照射的第1光脉冲及第2光脉冲，使所述光检测器在具有第1时间长度的第1期间中检测第1反射光脉冲的第1部分，并且使所述光检测器输出表示所述第1部分的光量的第1信号，使所述光检测器在具有第2时间长度的第2期间中检测第2反射光脉冲的第2部分，并且使所述光检测器输出表示所述第2部分的光量的第2信号。所述信号处理电路基于所述第1信号的变动及所述第2信号的变动，生成表示所述测定对象的内部状态的变动的信息。