公开(公告)号：CN111103241B

公开(公告)日：2022-10-28

申请号：CN201911017114.6

申请日：2019-10-24

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 增田修 ,  平林和彦 ,  田中博文 ,  中岛孝治

IPC: G01N21/21 ,  G02F1/13

Abstract: 本发明的课题在于，提供能够简便且定量地评价评价对象的光学膜光学特性的不均匀性的光学特性评价方法和光学特性评价系统。解决手段是，光学膜的评价方法，其中，基于对评价对象的光学膜和检偏振器进行了透射的光的偏振状态的分析而评价该光学膜的光学特性的不均匀性，所述方法的特征在于，针对多个部位测量光学膜的相位差以及取向角，且使用表示入射光的偏振状态的矢量、和至少光学膜以及检偏振器的偏振特性的矩阵，基于通过下述运算式1而运算的出射光的矢量的参数，对光学特性的不均匀性进行定量化而评价。(运算式1)：F2＝M×F1。

公开(公告)号：CN111103241A

公开(公告)日：2020-05-05

申请号：CN201911017114.6

申请日：2019-10-24

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 增田修 ,  平林和彦 ,  田中博文 ,  中岛孝治

IPC: G01N21/21 ,  G02F1/13

Abstract: 本发明的课题在于，提供能够简便且定量地评价评价对象的光学膜光学特性的不均匀性的光学特性评价方法和光学特性评价系统。解决手段是，光学膜的评价方法，其中，基于对评价对象的光学膜和检偏振器进行了透射的光的偏振状态的分析而评价该光学膜的光学特性的不均匀性，所述方法的特征在于，针对多个部位测量光学膜的相位差以及取向角，且使用表示入射光的偏振状态的矢量、和至少光学膜以及检偏振器的偏振特性的矩阵，基于通过下述运算式1而运算的出射光的矢量的参数，对光学特性的不均匀性进行定量化而评价。(运算式1)：F2＝M×F1。