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发明公开
测光装置审中-实审

公开(公告)号：CN116157657A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202180054564.1

申请日：2021-08-04

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 马之段月果 , 中谷通 , 平尾祐亮

IPC: G01J3/02

Abstract: 测光装置(1)具备可变光衰减器(4)。可变光衰减器(4)包括多个光衰减滤光器和驱动装置(5)。多个光衰减滤光器各自包括干扰多层膜和透明基板。将多个光衰减滤光器中的任意两个的组合设为第一光衰减滤光器(光衰减滤光器(10))和第二光衰减滤光器(光衰减滤光器(20))。第一光衰减滤光器的第一透明基板(透明基板(11))的第一光路长度与第二光衰减滤光器的第二透明基板(透明基板(21))的第二光路长度不同。

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