公开(公告)号：CN109115139B

公开(公告)日：2020-11-13

申请号：CN201810654941.5

申请日：2018-06-22

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 日高和彦 ,  吉谷里志

IPC: G01B21/00 ,  G01B21/20

Abstract: 提供一种三维测量单元和测量探测器的识别方法。在具备测量探测器(300)和根据测量探测器(300)的输出运算被测量物(W)的形状坐标的处理装置(400)的三维测量装置(100)中，测量探测器(300)具有第一识别码(330)，处理装置(400)具备：第一判定部(431)，其判定从测量探测器(300)输出的第一识别码(330)是否与特定码(MC)匹配；以及后级判定部(435)，其在由第一判定部(431)判定为第一识别码与特定码匹配且测量探测器(300)还具有第二识别码(340)时，确定从测量探测器(300)输出的第二识别码(340)来识别测量探测器(300)。由此，能够高效地识别多个测量探测器。

公开(公告)号：CN109115139A

公开(公告)日：2019-01-01

申请号：CN201810654941.5

申请日：2018-06-22

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 日高和彦 ,  吉谷里志

IPC: G01B21/00 ,  G01B21/20

Abstract: 提供一种三维测量单元和测量探测器的识别方法。在具备测量探测器(300)和根据测量探测器(300)的输出运算被测量物(W)的形状坐标的处理装置(400)的三维测量装置(100)中，测量探测器(300)具有第一识别码(330)，处理装置(400)具备：第一判定部(431)，其判定从测量探测器(300)输出的第一识别码(330)是否与特定码(MC)匹配；以及后级判定部(435)，其在由第一判定部(431)判定为第一识别码与特定码匹配且测量探测器(300)还具有第二识别码(340)时，确定从测量探测器(300)输出的第二识别码(340)来识别测量探测器(300)。由此，能够高效地识别多个测量探测器。

公开(公告)号：CN114440810A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202111293430.3

申请日：2021-11-03

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 吉谷里志 ,  宫崎智之

IPC: G01B17/06

Abstract: 本发明提供一种形状测定装置和异常检测方法。形状测定装置(1)具备：触头，其能够与工件接触；移动机构(4)，其使触头相对于工件进行相对移动；移动控制部(71)，其控制移动机构(4)；接触传感器(6)，其检测触头与工件的接触量，输出与接触量相应的检测信号(Sd2)；以及异常判定部(75)，其基于在移动机构(4)的将触头压紧于工件的动作的过程中从接触传感器(6)输出的检测信号(Sd2)的变化，来判定接触传感器(6)的灵敏度的异常。