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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118500286A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410172501.1
申请日：2024-02-07
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 工藤雄治
Abstract: 本发明公开了一种测量三维几何形状的测量设备的校准方法、测量系统和存储介质。该校准方法包括：摄像步骤，用于用第一摄像部(132a)和第二摄像部(132b)拍摄校准夹具(30)的一部分；第一识别步骤，用于基于第一摄像部(132a)的拍摄结果来识别校准夹具(30)的一部分的第一坐标位置；第二识别步骤，用于基于第二摄像部(132b)的拍摄结果来识别校准夹具(30)的一部分的第二坐标位置；旋转步骤，用于使校准夹具(30)旋转；重复步骤，用于重复摄像步骤、第一识别步骤、第二识别步骤和旋转步骤；以及识别用于旋转第一坐标位置或第二坐标位置以进行坐标变换的旋转矩阵和用于平移第一坐标位置或第二坐标位置的平移向量。
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公开(公告)号：CN107121087A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710107340.8
申请日：2017-02-27
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 工藤雄治
CPC classification number: G01B21/20 , G01B5/003 , G01B5/061 , G01B5/12 , G01B11/0608 , G01B11/12 , G01B11/2441 , G01B11/303 , G01B21/04 , G01M15/042 , G01B11/30
Abstract: 本发明提供一种信息处理装置和信息处理方法。该信息处理装置包括：输入单元，向该输入单元中输入包括多个凹窝的待测表面的形状数据；以及设置单元，该设置单元根据输入的形状数据检测多个凹窝之中的每一个，并且对于检测到的凹窝设置包括凹窝的待去除区域。
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公开(公告)号：CN107121058B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201710088418.6
申请日：2017-02-17
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了对有弯曲形状的目标物体测量距测量头的距离而测量所述目标物体的表面的方法，特征在于包括以下步骤：设定目标物体的测量范围和凹凸的阈值的步骤；获取包含目标物体的弯曲形状的形状基准数据的步骤；测量在测量范围中的目标物体和测量头之间的距离，获取目标物体的表面的三维数据的步骤；从三维数据除去形状基准数据来获取弯曲除去数据的步骤；基于弯曲除去数据求第1基准数据，求将对于第1基准数据超过阈值的数据从弯曲除去数据除外进行平均的第2基准数据的步骤；以及提取对于第2基准数据超过阈值的数据，求凹凸的形状数据的步骤。
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公开(公告)号：CN107121058A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710088418.6
申请日：2017-02-17
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了对有弯曲形状的目标物体测量距测量头的距离而测量所述目标物体的表面的方法，特征在于包括以下步骤：设定目标物体的测量范围和凹凸的阈值的步骤；获取包含目标物体的弯曲形状的形状基准数据的步骤；测量在测量范围中的目标物体和测量头之间的距离，获取目标物体的表面的三维数据的步骤；从三维数据除去形状基准数据来获取弯曲除去数据的步骤；基于弯曲除去数据求第1基准数据，求将对于第1基准数据超过阈值的数据从弯曲除去数据除外进行平均的第2基准数据的步骤；以及提取对于第2基准数据超过阈值的数据，求凹凸的形状数据的步骤。
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