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公开(公告)号：CN112179268A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010622686.3
申请日：2020-06-30
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 石下雅史 , 宍户裕子
IPC: G01B9/02 , G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种测量装置，包含：存储部，其存储有用于从基于干涉而出现的颜色对与白光的干涉相关的2个光路的光路差进行测量的信息；以及运算部，其从由分别包含表示颜色的信息的多个像素构成的图像，至少根据存储于存储部的信息来测量与各像素相关的光路差。
