光学测量设备
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109211106B

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN201810706172.9

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 照明单元将平行于第一方向的光发射到测量空间。光接收单元输出指示入射在光接收表面上的光的二维分布的信号。光学系统将穿过测量空间的光引导至光接收表面。控制单元基于所述信号来检测测量对象在第一方向上的位置。光接收表面相对于光的透射方向绕第二方向倾斜预定角度。控制单元检测在二维分布中光强度在第二方向上改变预定值的位置,检测所检测到的位置在第三方向上的位置,并且检测测量对象在测量空间中被放置在第一方向上的位置。

    光学测量设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109211106A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810706172.9

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 照明单元将平行于第一方向的光发射到测量空间。光接收单元输出指示入射在光接收表面上的光的二维分布的信号。光学系统将穿过测量空间的光引导至光接收表面。控制单元基于所述信号来检测测量对象在第一方向上的位置。光接收表面相对于光的透射方向绕第二方向倾斜预定角度。控制单元检测在二维分布中光强度在第二方向上改变预定值的位置,检测所检测到的位置在第三方向上的位置,并且检测测量对象在测量空间中被放置在第一方向上的位置。

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