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公开(公告)号：CN113686246A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202110538600.3
申请日：2021-05-18
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 测量装置(100)包括激光器装置(111)、将激光束分成参考光和测量光的分支部(120)、将测量光会聚到待测量对象(10)上的会聚部(140)、调节会聚部(140)会聚测量光的焦点位置的控制部(160)，以及距离计算部(117)，该距离计算部基于参考光和测量光之间的光程差来计算距待测量对象(10)的距离，其中，会聚部(140)包括第一透镜(141)和对应性计算部(145)，该对应性计算部基于第一透镜(141)的位置和距待测量对象(10)的距离来计算会聚部(140)的焦点位置和第一透镜(141)的位置之间的对应性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109238164B
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN201810595166.0
申请日：2018-06-11
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了图像拾取装置、光学测量装置及测量系统。能够提高光学测量装置的测量精度和测量可作业性的图像拾取装置、包括该图像拾取装置的光学测量装置以及测量系统。根据本发明一方面的图像拾取装置包括基部、分束器和图像拾取部。所述基部配置成可拆卸地附接到光学测量装置，所述光学测量装置包括配置成将对象的图像投影在屏幕上的投影光学系统。所述分束器在所述基部附接到所述光学测量装置时设置在所述投影光学系统的光轴上。所述图像拾取部包括配置为接收通过在所述分束器处分裂而产生的光的图像拾取设备，并且配置为在附接所述基部时拍摄对象的图像。
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公开(公告)号：CN109211106B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201810706172.9
申请日：2018-06-29
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 照明单元将平行于第一方向的光发射到测量空间。光接收单元输出指示入射在光接收表面上的光的二维分布的信号。光学系统将穿过测量空间的光引导至光接收表面。控制单元基于所述信号来检测测量对象在第一方向上的位置。光接收表面相对于光的透射方向绕第二方向倾斜预定角度。控制单元检测在二维分布中光强度在第二方向上改变预定值的位置，检测所检测到的位置在第三方向上的位置，并且检测测量对象在测量空间中被放置在第一方向上的位置。
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公开(公告)号：CN112180389A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010633181.7
申请日：2020-07-02
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种测量装置300，包括：激光装置110；分支部件120，将由激光装置110输出的调频激光束分支为参考光和测量光；差拍信号生成部件150，通过混合反射光和参考光来生成差拍信号；转换部件160，以第一采样率将差拍信号转换为数字信号，并对其进行频率分析；提取部件170，从调频激光束中提取与共振腔频率相对应的信号分量；数字滤波器310，以第二采样率对提取的信号分量进行数字滤波；以及计算部件180，计算参考光和测量光之间的传播距离的差。
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公开(公告)号：CN109238164A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201810595166.0
申请日：2018-06-11
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G03B21/28 , G02B15/14 , G02B27/0955 , G02B27/10 , G03B17/54 , G03B21/10 , G01B11/2433
Abstract: 本发明公开了图像拾取装置、光学测量装置及测量系统。能够提高光学测量装置的测量精度和测量可作业性的图像拾取装置、包括该图像拾取装置的光学测量装置以及测量系统。根据本发明一方面的图像拾取装置包括基部、分束器和图像拾取部。所述基部配置成可拆卸地附接到光学测量装置，所述光学测量装置包括配置成将对象的图像投影在屏幕上的投影光学系统。所述分束器在所述基部附接到所述光学测量装置时设置在所述投影光学系统的光轴上。所述图像拾取部包括配置为接收通过在所述分束器处分裂而产生的光的图像拾取设备，并且配置为在附接所述基部时拍摄对象的图像。
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公开(公告)号：CN109211106A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810706172.9
申请日：2018-06-29
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 照明单元将平行于第一方向的光发射到测量空间。光接收单元输出指示入射在光接收表面上的光的二维分布的信号。光学系统将穿过测量空间的光引导至光接收表面。控制单元基于所述信号来检测测量对象在第一方向上的位置。光接收表面相对于光的透射方向绕第二方向倾斜预定角度。控制单元检测在二维分布中光强度在第二方向上改变预定值的位置，检测所检测到的位置在第三方向上的位置，并且检测测量对象在测量空间中被放置在第一方向上的位置。
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