磁盘装置及数据刷新的处理方法

    公开(公告)号:CN105096965A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201410443155.2

    申请日:2014-09-02

    发明人: 川井康正

    IPC分类号: G11B5/02 G11B5/58

    CPC分类号: G11B27/36 G11B5/012

    摘要: 本发明涉及磁盘装置及数据刷新的处理方法。实施方式涉及的磁盘装置具备磁盘、头和处理部,其中,所述磁盘具有在多个磁道记录数据的记录面;所述头用于在记录面写入所述数据;所述处理部对对应于通过头进行的写入数的写计数数进行计数,并在写计数数超过阈值的情况下实行数据刷新。处理部在对写计数数进行计数时,在头在磁道上写时以第1计数增加数进行计数,并在脱离磁道写产生时以比第1计数增加数大的第2计数增加数进行计数。

    存储设备和用于该存储设备的缺陷扫描的方法

    公开(公告)号:CN106560893A

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201610791131.5

    申请日:2016-08-31

    发明人: 川井康正

    IPC分类号: G11B20/18 G11B19/04

    摘要: 执行一种缺陷扫描方法以检测存储设备的存储介质中的缺陷部分,存储介质包括多个存储区,多个存储区包括第一存储区和第二存储区。该缺陷扫描方法包括:在存储设备连接到主机前,扫描存储介质的一部分存储区以检测其中的缺陷部分,所扫描的存储区包括第一存储区,未扫描的存储区包括第二存储区;将逻辑地址映射到第一存储区的非缺陷部分的物理地址;在存储设备连接到主机后,扫描第二存储区以检测其中的缺陷部分,并将逻辑地址映射到第二存储区的非缺陷部分的物理地址。