-
公开(公告)号：CN102782481B
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201180011609.3
申请日：2011-05-10
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G01N21/84 , G01N21/85 , G01N2021/8466 , G06K9/628 , G06T7/0004 , G06T2207/30128
Abstract: 本发明提供一种在利用谷粒外观品质判别装置来计算谷粒的按品质划分的重量比率的情况下也能够高精度地计算该重量比率的方法。谷粒外观品质判别装置的按品质划分的重量比率的计算方法通过摄像单元拍摄谷粒，并根据该摄像数据判别谷粒的品质，其特征在于，拍摄多个谷粒，根据该摄像数据判别所述多个谷粒的品质，按品质对该进行了品质判别后的多个谷粒的所述摄像数据的像素数进行合计，对该按照品质进行合计后的像素数乘以预先按品质设定的每一个像素的重量换算系数，由此将所述像素数换算成按品质划分的重量，根据该按品质划分的重量来计算该谷粒的按品质划分的重量比率。
-
公开(公告)号：CN101551376B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200810045086.4
申请日：2008-03-31
Applicant: 国家粮食储备局成都粮食储藏科学研究所 , 株式会社佐竹
Abstract: 一种米类加工精度的检验方法，主要用于检验大米的加工精度。该方法首先是将待测样品进行加热处理，其加热温度为150℃～250℃，加热时间为1min～25min，使样品的留皮部分变色，再由人工或仪器检验该样品留皮程度，再与标准样品比较，判断出该样品的加工精度。本方法可以消除垩白粒对米类加工精度检验的影响，实现米类加工精度的准确测量；且可替代原染色法，不使用化学试剂，安全环保。
-
公开(公告)号：CN104428657B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201380034156.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/85 , G06T11/60 , G06T2207/20221 , G06T2207/30128
Abstract: 本发明的技术课题在于使用通过拍摄装置拍摄的谷粒的图像信息来进行上述谷粒的光学检查，并且使用该图像信息来制作将谷粒放入到谷粒观察皿上的集合图像(模拟图像)，由此在进行光学检查的同时，能够通过该集合图像模拟地进行利用谷粒观察皿的目视的检查。因此，谷粒外观测定装置具备：拍摄单元，拍摄多个谷粒；分析单元，以粒为单位分析该拍摄单元拍摄到的谷粒的图像信息；加工单元，对上述图像信息进行加工来形成集合图像；以及保存及/或显示通过该加工单元加工后的集合图像的单元，在上述加工单元中，从上述图像信息中以粒为单位抽取谷粒的图像，将抽取的以粒为单位的各谷粒的图像配置成相互密接状态，从而形成上述谷粒的图像的集合图像。
-
公开(公告)号：CN105102964A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201480012071.1
申请日：2014-02-27
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/84
CPC classification number: G01N21/01 , G01N21/85 , G01N21/88 , G01N2201/022 , G01N2201/062
Abstract: 本发明的目的在于提供能够不使试样皿旋转就检测出因谷粒不同而方向各异的所有裂纹的谷粒透视器。本发明为一种谷粒透视器，使光从斜下方入射至试样皿的透明的底面，上述谷粒透视器的特征在于，具备：基座部件；能够旋转地配设在上述基座部件内，并在一侧具有光源的旋转部件；以及安装在上述基座部件上并与该基座部件一同构成外框，具有位于上述旋转部件的上方并承接上述试样皿的开口部的罩部件，在上述旋转部件上设置用于对该旋转部件进行旋转操作的操作部，并且在上述外框形成开口，使上述操作部经由上述开口从上述外框向外部伸出并且能够以上述旋转部件的中心为轴进行摆动。
-
公开(公告)号：CN102159938B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN200980137049.9
申请日：2009-10-01
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G01N21/85 , G01B11/024 , G01N2021/8592
Abstract: 本发明的技术课题在于提供使用扫描器等图像读取装置而廉价、容易地进行粒状物的长度、宽度及厚度的三轴方向的尺寸测定的粒状物用托盘。采取了下述技术措施：在配设有透明的底板、在与该底板垂直的方向上竖立设置的背景件、以及空出规定的间隔而与上述背景件平行地设置的反射体的、用于将粒状物载置在图像读取装置的读取面上的托盘中，通过上述反射体将来自上述粒状物的厚度方向的光向上述摄像机构的光轴方向折射并传导，以便能够利用上述图像读取装置的摄像机构对载置在上述托盘的底板上的粒状物的厚度方向的侧面图像感光。
-
Patent Agency Ranking
-
公开(公告)号：CN104428657A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201380034156.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/85 , G06T11/60 , G06T2207/20221 , G06T2207/30128
Abstract: 本发明的技术课题在于使用通过拍摄装置拍摄的谷粒的图像信息来进行上述谷粒的光学检查，并且使用该图像信息来制作将谷粒放入到谷粒观察皿上的集合图像(模拟图像)，由此在进行光学检查的同时，能够通过该集合图像模拟地进行利用谷粒观察皿的目视的检查。因此，谷粒外观测定装置具备：拍摄单元，拍摄多个谷粒；分析单元，以粒为单位分析该拍摄单元拍摄到的谷粒的图像信息；加工单元，对上述图像信息进行加工来形成集合图像；以及保存及/或显示通过该加工单元加工后的集合图像的单元，在上述加工单元中，从上述图像信息中以粒为单位抽取谷粒的图像，将抽取的以粒为单位的各谷粒的图像配置成相互密接状态，从而形成上述谷粒的图像的集合图像。
-
公开(公告)号：CN101858855B
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201010104740.1
申请日：2010-01-28
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/31
CPC classification number: G01N21/274 , G01N21/31
Abstract: 本发明的目的在于修正机体差异，其课题在于提供一种通过近似式的吸光度计算方法，即使在由于所装配的分光器的个体差异而在各个分光分析装置中存在测定波长的偏差的情况下，也能够在各装置中求出同一波长的吸光度。讲述了以下的技术方法：向被测定物照射包含多个波长的光，接受来自所述被测定物的反射光或透过光，根据接受光得到的信息求出多个波长的吸光度，使用这些多个吸光度，将光的波长作为说明变量，将吸光度作为目的变量，求出2次以上的回归式，将特定波长的值代入到该回归式中，由此来计算出所述特定波长的吸光度。此外，对所述回归式进行微分，将特定波长的值代入微分后的回归式中，由此还可以计算所述特定波长的微分吸光度。
-
公开(公告)号：CN117460949A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202280038928.1
申请日：2022-03-30
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 光学式分选机的控制器构成为：受理与从光学式分选机中作为合格品被排出的被分选物中的不合格品的混入允许率相关的目标品质条件的候选的输入，受理与被分选物的至少一部分相关的表示不合格品的混入率的品质信息的输入，基于品质信息来模拟在由分选装置以能够实现目标品质条件的候选的方式进行了分选的情况下的与作为合格品被排出的被分选物的量和/或成品率相关的分选结果，并输出模拟结果，受理在由分选装置进行分选时应采用的最终目标品质条件的输入，基于能够实现最终目标品质条件的分选控制参数来执行分选。
-
公开(公告)号：CN114245759A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202080055697.6
申请日：2020-07-20
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 本发明具有：流下滑槽，其使由稻谷和糙米构成的混合颗粒排列并流下；发光源，其对从所述流下滑槽排出的所述混合颗粒照射光；以及受光单元，其能够从照射到来自所述发光源的光的所述混合颗粒接收反射光和透射光，所述发光源具备：第1照明单元，其设置于所述混合颗粒的所述受光单元侧，且能够对该混合颗粒照射红色成分的光；以及第2照明单元，其设置于所述混合颗粒的远离所述受光单元的一侧，且能够对该混合颗粒照射绿色成分的光。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
24
records
(took 0.018 seconds)
