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公开(公告)号：CN114258488A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202080058060.2
申请日：2020-08-18
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Abstract: 提供一种超声波检查装置，能够确切地检测检查对象物的内部缺陷。为此，超声波检查装置具备：超声波探头，发生超声波而发送给检查对象物，并接收从所述检查对象物反射的反射波；以及运算处理部，在所述运算处理部中，(A)设定表示所述反射波的解析对象的开始时间和时间宽度的门，(B)关于多个测定点的各个测定点，(B1)取得表示所述反射波的按时间的强度的反射信号，(B2)计算所述反射信号与参考信号的差分即差分信号，(B3)针对所述门内的所述差分信号而计算特征量，(C)根据针对多个所述测定点的所述特征量来检测缺陷，(D)输出表示沿着所述超声波的发送方向的所述缺陷的深度的信息。
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公开(公告)号：CN107710786B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201680037346.6
申请日：2016-06-21
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: H04R17/00 , G01N29/24 , G01N29/265
Abstract: 本发明的目的是使得能够发送200MHz以上频率的超声波的超声波探头以及超声波检查装置容易地形成。为此，构成超声波探头4的层叠压电元件40具备在下部电极42与上部电极49之间设置层叠压电体膜48而成的层叠压电元件40。层叠压电体膜48在具有相对于膜面实质上垂直方向的自发极化的ZnO膜43上直接形成有与ZnO不同且具有与ZnO相反方向的自发极化的ScAlN膜44。
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公开(公告)号：CN119487392A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202380051903.X
申请日：2023-07-26
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/46
Abstract: 本发明提供一种缺陷部的检测性能例如能够检测的缺陷尺寸较小且即使为微小缺陷也能够检测的超声波检查装置。超声波检查装置(Z)的控制装置(2)具有信号处理部(250)，信号处理部(250)包括：将接收探头(121)的接收信号转换为频率成分的频率转换部(230)；图像化部(262)，其使用转换后的上述频率成分中的、用频率参数指定的频率成分的部分，来生成表示缺陷位置的图像；和进行对显示装置(3)的显示的显示部(263)，显示部(263)将对应于由频率转换部(230)转换后的上述频率成分对应的频谱、以及用接受上述频率参数的输入的输入部显示于显示装置(3)。
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公开(公告)号：CN116917730A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202180094530.5
申请日：2021-11-30
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/24
Abstract: 本发明提供能够提高缺陷部的检测性能、例如能够减小可检测的缺陷尺寸下限的超声波检查装置。为了解决该课题，超声波检查装置(Z)具备：扫描测量装置(1)，其进行至被检查体的超声波束的扫描及测量；以及控制装置(2)，其控制扫描测量装置(1)的驱动，扫描测量装置(1)具备：发送探针(110)，其放出超声波束；以及偏心配置接收探针(120)，其接收超声波束，偏心配置接收探针(120)配置成使发送探针(110)的发送声轴与偏心配置接收探针(120)的接收声轴的偏心距离大于零，偏心配置接收探针(120)具备具有多个单位入射部的入射部，所述单位入射部具备具有多个法线的表面形状。
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公开(公告)号：CN105934668A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201580005771.2
申请日：2015-01-30
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/265 , G01N29/04
CPC classification number: G01N29/28 , G01N29/225 , G01N29/2487 , G01N29/262 , G01N2291/0289 , G01N2291/106 , G01N2291/2632
Abstract: 适用于具备阵列型探针的超声波检查装置，将工件的漏水大致限制于检查面。超声波检查装置(100)具备：使检查面向下并保持工件(106)的工件支架(105)；用超声波探触工件(106)的阵列型探针(107)；在水中浸入阵列型探针(107)的水槽(109)；以使阵列型探针(107)与工件(106)检查面的下方相对的方式保持的臂116)；以液面由于蓄积于水槽(109)中的水的表面张力而与工件(106)的检查面接触状态，水平地扫描工件(106)的X轴方向扫描机构(104A、104B)，水平地扫描阵列型探针(107)的Y轴方向扫描机构(101)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107710786A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201680037346.6
申请日：2016-06-21
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: H04R17/00 , G01N29/24 , G01N29/265
Abstract: 本发明的目的是使得能够发送200MHz以上频率的超声波的超声波探头以及超声波检查装置容易地形成。为此，构成超声波探头4的层叠压电元件40具备在下部电极42与上部电极49之间设置层叠压电体膜48而成的层叠压电元件40。层叠压电体膜48在具有相对于膜面实质上垂直方向的自发极化的ZnO膜43上直接形成有与ZnO不同且具有与ZnO相反方向的自发极化的ScAlN膜44。
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公开(公告)号：CN103592370B
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：CN201310258105.2
申请日：2013-06-26
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/06
Abstract: 本发明提供得到稳定的检查图像的超声波检查装置及超声波检查方法。超声波检查装置具备：能在水平方向上进行扫描的扫描单元（1、2）；安装在扫描单元（1、2）上的垂直方向的高度调整单元（3）；安装在高度调整单元（3）上的支架（5）；安装在支架（5）上的超声波探测器（4）；喷嘴附件（6），其使水从喷嘴流出，并形成从超声波探测器（4）向工件（9）的连续的水流；以及间隙调整单元（7），其安装在高度调整单元（3）或支架（5）上，能使喷嘴附件（6）在垂直方向上移动。
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公开(公告)号：CN114258488B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202080058060.2
申请日：2020-08-18
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Abstract: 提供一种超声波检查装置，能够确切地检测检查对象物的内部缺陷。为此，超声波检查装置具备：超声波探头，发生超声波而发送给检查对象物，并接收从所述检查对象物反射的反射波；以及运算处理部，在所述运算处理部中，(A)设定表示所述反射波的解析对象的开始时间和时间宽度的门，(B)关于多个测定点的各个测定点，(B1)取得表示所述反射波的按时间的强度的反射信号，(B2)计算所述反射信号与参考信号的差分即差分信号，(B3)针对所述门内的所述差分信号而计算特征量，(C)根据针对多个所述测定点的所述特征量来检测缺陷，(D)输出表示沿着所述超声波的发送方向的所述缺陷的深度的信息。
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公开(公告)号：CN115335693A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202180024110.X
申请日：2021-01-13
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Abstract: 一种超声波检查方法，具有：登记步骤，将用于校正参考信号的强度的检查对象物的种类所固有的校正参数与检查对象识别符关联起来登记到硬盘(6)中；加载步骤(步骤S2)，根据检查对象识别符将校正参数加载到运算处理部(5)；校正步骤(步骤S3)，使用所加载的校正参数对参考信号的信号强度进行校正；以及相关运算步骤(步骤S6)，执行接收信号和所校正后的参考信号的相关运算处理。
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公开(公告)号：CN110530986A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201910426464.1
申请日：2019-05-22
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/06 , G01N29/265
Abstract: 提供一种位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统，即使在检查厚的被检体的情况下也能够在期望的检查对象面取得高分辨率的检查图像。位置控制装置具备决定第1超声波探测部以及第2超声波探测部的位置的处理部，该第1超声波探测部向被检体发送超声波，该第2超声波探测部与所述第1超声波探测部对置地配置，接收透射所述被检体的透射信号。在将与所述被检体的表面垂直的方向设为±Z方向、将与所述±Z方向正交的方向设为±X方向、将与所述±Z方向以及所述±X方向正交的方向设为±Y方向的情况下，所述处理部在所述±Z方向上决定所述第1超声波探测部的位置，在所述±Z方向上决定所述第2超声波探测部的位置。
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