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公开(公告)号：CN117980738A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202280061875.5
申请日：2022-07-13
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
Abstract: 本公开提供一种将缺陷部的检测性能设为例如可检测的缺陷尺寸较小，即使是微小的缺陷也能够进行检测的超声波检查装置。为了解决课题，本公开的超声波检查装置(Z)具备：扫描测量装置(1)，其对被检查体(E)进行超声波束(U)的扫描及测量；控制装置(2)，其控制扫描测量装置(1)的驱动，扫描测量装置(1)具备发射超声波束(U)的发送探针(110)、和接收超声波束(U)的接收探针(121)，控制装置(2)具备信号处理部(250)，信号处理部(250)具备减少接收探针(121)的接收信号中的至少最大强度频率成分的滤波器部(240)，滤波器部(240)检测包含上述最大强度频率成分的基波带中的上述最大强度频率成分以外的基底缓坡成分。
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公开(公告)号：CN119487392A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202380051903.X
申请日：2023-07-26
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/46
Abstract: 本发明提供一种缺陷部的检测性能例如能够检测的缺陷尺寸较小且即使为微小缺陷也能够检测的超声波检查装置。超声波检查装置(Z)的控制装置(2)具有信号处理部(250)，信号处理部(250)包括：将接收探头(121)的接收信号转换为频率成分的频率转换部(230)；图像化部(262)，其使用转换后的上述频率成分中的、用频率参数指定的频率成分的部分，来生成表示缺陷位置的图像；和进行对显示装置(3)的显示的显示部(263)，显示部(263)将对应于由频率转换部(230)转换后的上述频率成分对应的频谱、以及用接受上述频率参数的输入的输入部显示于显示装置(3)。
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公开(公告)号：CN116917730A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202180094530.5
申请日：2021-11-30
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/24
Abstract: 本发明提供能够提高缺陷部的检测性能、例如能够减小可检测的缺陷尺寸下限的超声波检查装置。为了解决该课题，超声波检查装置(Z)具备：扫描测量装置(1)，其进行至被检查体的超声波束的扫描及测量；以及控制装置(2)，其控制扫描测量装置(1)的驱动，扫描测量装置(1)具备：发送探针(110)，其放出超声波束；以及偏心配置接收探针(120)，其接收超声波束，偏心配置接收探针(120)配置成使发送探针(110)的发送声轴与偏心配置接收探针(120)的接收声轴的偏心距离大于零，偏心配置接收探针(120)具备具有多个单位入射部的入射部，所述单位入射部具备具有多个法线的表面形状。
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公开(公告)号：CN116097092A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202180056373.9
申请日：2021-05-31
Applicant: 株式会社日立电力解决方案
IPC: G01N29/26
Abstract: 提供一种缺陷部的检测性能、例如显示图像的分辨率优异的超声波检查装置。为此，超声波检查装置Z具备：扫描测量装置1，对被检查体进行超声波束的扫描及测量；及控制装置2，控制扫描测量装置1的驱动；扫描测量装置1具备发射超声波束的发送探针110、与接收超声波束的偏心配置接收探针120，以发送探针110的发送音轴与偏心配置接收探针120的接收音轴的偏心距离大于零的方式，配置偏心配置接收探针120，控制装置2具备：相位抽取部231，抽取偏心配置接收探针120接收到的超声波束的信号的相位信息；及相位变化量计算部232，计算出抽取出的相位信息的与扫描位置相关的相位变化量。
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