自动分析装置及自动分析方法

    公开(公告)号:CN103003684A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201180030850.0

    申请日:2011-06-15

    CPC classification number: G01N21/51 G01N15/0211 G01N35/025 G06F17/00

    Abstract: 本发明实现一种能减少测量对象物以外的噪声成分的散射光的影响从而改善光接收信号的S/N比特性的自动分析装置。在多个检测器(204~206)中以多个角度取得数据。检测数据选择部(18a)将由其中一个检测器取得的信号选择为基准信号。在第1选择数据处理部(18b)的近似式选择部(18b1)中选择应用的近似式,并使用选出的近似式由近似式计算部(18b2)来计算近似式。变动率计算部(18b3)求取基准信号的变动率。检测器(205)的信号由第2选择数据处理部(18c)进行保持,并通过数据校正部(18d)除以基准信号的变动率来实施。浓度运算处理部(18e)使用校正后的信号数据来进行浓度运算,并由结果输出部(18f)将结果输出至CRT等。

    自动分析装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103238062B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201180058160.6

    申请日:2011-11-29

    Inventor: 芝正树 安藤学

    Abstract: 提供一种自动分析装置,从光源(14)向装入有测定对象试料与试药并使其反应的反应容器(2)照射测定光,通过夹着反应容器(2)而与光源(14)对置设置的透过光受光器(15A)对来自反应容器(2)的透过光(14a)进行测定,并且通过在反应容器(2)的透过光受光器(15A)侧配置的散射光受光器(15B、15C)对来自反应容器(2)的散射光(14b、14c)进行测定,基于透过光受光器(15B、15C)的检测结果,对由光源(14)照射的测定光的光量进行修正。由此,即便在使用散射光的分析中,也可以修正入射光量,能够抑制入射光量引起的分析结果的装置间差。

    自动分析装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103238062A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201180058160.6

    申请日:2011-11-29

    Inventor: 芝正树 安藤学

    Abstract: 提供一种自动分析装置,从光源(14)向装入有测定对象试料与试药并使其反应的反应容器(2)照射测定光,通过夹着反应容器(2)而与光源(14)对置设置的透过光受光器(15A)对来自反应容器(2)的透过光(14a)进行测定,并且通过在反应容器(2)的透过光受光器(15A)侧配置的散射光受光器(15B、15C)对来自反应容器(2)的散射光(14b、14c)进行测定,基于透过光受光器(15B、15C)的检测结果,对由光源(14)照射的测定光的光量进行修正。由此,即便在使用散射光的分析中,也可以修正入射光量,能够抑制入射光量引起的分析结果的装置间差。

    自动分析装置及自动分析方法

    公开(公告)号:CN103003684B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201180030850.0

    申请日:2011-06-15

    CPC classification number: G01N21/51 G01N15/0211 G01N35/025 G06F17/00

    Abstract: 本发明实现一种能减少测量对象物以外的噪声成分的散射光的影响从而改善光接收信号的S/N比特性的自动分析装置。在多个检测器(204~206)中以多个角度取得数据。检测数据选择部(18a)将由其中一个检测器取得的信号选择为基准信号。在第1选择数据处理部(18b)的近似式选择部(18b1)中选择应用的近似式,并使用选出的近似式由近似式计算部(18b2)来计算近似式。变动率计算部(18b3)求取基准信号的变动率。检测器(205)的信号由第2选择数据处理部(18c)进行保持,并通过数据校正部(18d)除以基准信号的变动率来实施。浓度运算处理部(18e)使用校正后的信号数据来进行浓度运算,并由结果输出部(18f)将结果输出至CRT等。

Patent Agency Ranking