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公开(公告)号：CN118843991A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202380026245.9
申请日：2023-02-21
申请人： 株式会社理光
摘要： 一种电磁波吸收器和反射器(10、20、30、40、50)，包括基材(11、21、31、41、51)和多个由导电材料制成的单位图案(15、25、35、45、55)，所述多个单位图案以等间隔设置在所述基材(11，21、31，41，51)的表面。在所述电磁波吸收器和反射器(10、20、30、40、50)中，所述多个单位图案(15、25、35、45、55)中的每一个的一部分在所述基材(11、21、31、41、51)的层叠方向上与所述多个单位图案(15、25、35、45、55)中相邻的一个单位图案的一部分重叠，所述多个单位图案(15、25、35、45、55)中的每一个单位图案的一部分与所述多个单位图案(15、25、35、45、55)中的相邻一个单位图案的一部分具有插在其间的电介质层(13)。
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公开(公告)号：CN113474170A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202080015785.3
申请日：2020-03-09
申请人： 株式会社理光
IPC分类号： B33Y10/00 , B33Y30/00 , B29C64/141 , B29C64/241 , B29C64/268 , B29C64/295 , B29C64/321
摘要： 一种被构造为对三维被建模对象进行建模的设备，包括载体、能量施加单元和飞行单元。载体被构造为承载建模材料。能量施加单元被构造为向被建模对象的表面施加能量。飞行单元被构造为将承载在载体上的建模材料朝向被建模对象的表面飞行，能量被施加到表面。
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公开(公告)号：CN113844172A
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN202110696594.4
申请日：2021-06-23
申请人： 株式会社理光
摘要： 本发明涉及装置及图像形成装置。其目的在于，在短时间内对基材附加能量。本发明的一个实施方式涉及的装置是至少将第一能量附加到基材的装置，所述装置包括:转换材料赋予部,将使第二能量转换为所述第一能量的转换材料赋予到所述基材；以及能量附加部，将所述第二能量附加到已赋予所述基材的所述转换材料。所述能量附加部将与所述转换材料的气化热以上的热量对应的所述第二能量附加到所述转换材料。
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公开(公告)号：CN106094478A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610467575.3
申请日：2014-03-14
申请人： 株式会社理光
摘要： 本发明的目的在于获得一种位置改变测量装置、位置改变测量方法和图像形成设备，该位置改变测量装置通过使用光斑图案来测量动态测量表面的位置改变，同时容易减少测量环境温度的波动的影响。位置改变测量装置包括：光源；照明光学系统，该照明光学系统被配置成将来自光源的光引导到被测量表面；成像光学系统；图像拾取装置，该图像拾取装置被配置成通过经由成像光学系统接收来自被测量表面的反射光来获得光斑图案；和检测长度补偿部件，该检测长度补偿部件用于补偿由温度波动所引起的检测长度的波动。基于对以预定时间间隔获得的多个光斑图案所进行的互相关计算的结果来测量测量表面的位置改变。
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公开(公告)号：CN106094478B
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201610467575.3
申请日：2014-03-14
申请人： 株式会社理光
摘要： 本发明的目的在于获得一种位置改变测量装置、位置改变测量方法和图像形成设备，该位置改变测量装置通过使用光斑图案来测量动态测量表面的位置改变，同时容易减少测量环境温度的波动的影响。位置改变测量装置包括：光源；照明光学系统，该照明光学系统被配置成将来自光源的光引导到被测量表面；成像光学系统；图像拾取装置，该图像拾取装置被配置成通过经由成像光学系统接收来自被测量表面的反射光来获得光斑图案；和检测长度补偿部件，该检测长度补偿部件用于补偿由温度波动所引起的检测长度的波动。基于对以预定时间间隔获得的多个光斑图案所进行的互相关计算的结果来测量测量表面的位置改变。
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公开(公告)号：CN104049487B
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：CN201410095506.5
申请日：2014-03-14
申请人： 株式会社理光
摘要： 本发明的目的在于获得一种位置改变测量装置、位置改变测量方法和图像形成设备，该位置改变测量装置通过使用光斑图案来测量动态测量表面的位置改变，同时容易减少测量环境温度的波动的影响。位置改变测量装置包括：光源；照明光学系统，该照明光学系统被配置成将来自光源的光引导到被测量表面；成像光学系统；图像拾取装置，该图像拾取装置被配置成通过经由成像光学系统接收来自被测量表面的反射光来获得光斑图案；和检测长度补偿部件，该检测长度补偿部件用于补偿由温度波动所引起的检测长度的波动。基于对以预定时间间隔获得的多个光斑图案所进行的互相关计算的结果来测量测量表面的位置改变。
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公开(公告)号：CN104049487A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201410095506.5
申请日：2014-03-14
申请人： 株式会社理光
CPC分类号： G01B11/043 , G03G15/00 , G03G15/5054 , G03G2215/00616
摘要： 本发明的目的在于获得一种位置改变测量装置、位置改变测量方法和图像形成设备，该位置改变测量装置通过使用光斑图案来测量动态测量表面的位置改变，同时容易减少测量环境温度的波动的影响。位置改变测量装置包括：光源；照明光学系统，该照明光学系统被配置成将来自光源的光引导到被测量表面；成像光学系统；图像拾取装置，该图像拾取装置被配置成通过经由成像光学系统接收来自被测量表面的反射光来获得光斑图案；和检测长度补偿部件，该检测长度补偿部件用于补偿由温度波动所引起的检测长度的波动。基于对以预定时间间隔获得的多个光斑图案所进行的互相关计算的结果来测量测量表面的位置改变。
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