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    气体分析装置
    1.
    发明授权
    气体分析装置 失效 转让

    公开(公告)号：CN101405600B

    公开(公告)日：2013-06-19

    申请号：CN200780009537.2

    申请日：2007-03-16

    申请人： 株式会社理学 ,  滨松光子学株式会社

    发明人： 有井忠 ,  高田义博 ,  大竹智士 ,  松浦惠树

    IPC分类号： G01N27/64 ,  G01N27/62

    CPC分类号： G01N27/64 ,  H01J49/08 ,  H01J49/147 ,  H01J49/162

    摘要： 使气体中包含的多个分子成分彼此同时地成为PI法电离的对象。例如，基于PI法实时地对某一瞬间发生的气体中包含的多个分子成分准确地进行分析。这种气体分析装置具备：用于将试料室RO内的试料S所发生的气体输送到分析室R1的气体输送装置(4)、使气体电离的电离装置(19)、将离子按照不同质量电荷比分离的四极滤质器(21)、检测分离出来的离子的离子检测装置(22)。电离装置(19)具备：设置在气体输送装置(4)的气体排放口附近的电离区域、发光照射该电离区域的灯(33A)。灯(33A)发出与激光相比指向性低、扩散着行进的光，因此，进入电离装置(19)内的电离区域的气体在大范围内受到光线照射，其内部的多个气化成分被同时电离。

    气体分析装置
    2.
    发明公开
    气体分析装置 失效 转让

    公开(公告)号：CN101405600A

    公开(公告)日：2009-04-08

    申请号：CN200780009537.2

    申请日：2007-03-16

    申请人： 株式会社理光 ,  滨松光子学株式会社

    发明人： 有井忠 ,  高田义博 ,  大竹智士 ,  松浦惠树

    IPC分类号： G01N27/64 ,  G01N27/62

    CPC分类号： G01N27/64 ,  H01J49/08 ,  H01J49/147 ,  H01J49/162

    摘要： 使气体中包含的多个分子成分彼此同时地成为PI法电离的对象。例如，基于PI法实时地对某一瞬间发生的气体中包含的多个分子成分准确地进行分析。这种气体分析装置具备：用于将试料室R0内的试料S所发生的气体输送到分析室R1的气体输送装置(4)、使气体电离的电离装置(19)、将离子按照不同质量电荷比分离的四极滤质器(21)、检测分离出来的离子的离子检测装置(22)。电离装置(19)具备：设置在气体输送装置(4)的气体排放口附近的电离区域、发光照射该电离区域的灯(33A)。灯(33A)发出与激光相比指向性低、扩散着行进的光，因此，进入电离装置(19)内的电离区域的气体在大范围内受到光线照射，其内部的多个气化成分被同时电离。