用于测量聚变装置中静电和电磁湍流的微波准光学系统

    公开(公告)号:CN117647679A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311624413.2

    申请日:2023-11-30

    Abstract: 本发明公开了用于测量聚变装置中静电和电磁湍流的微波准光学系统,涉及微观湍流检测技术领域,该系统包括:第一微波透镜、第二微波透镜、第三微波透镜和微波反射镜,其中:第一微波透镜和第二微波透镜相对设置,在第一微波透镜和第二微波透镜之间设置有金属线栅;第三微波透镜位于第一微波透镜和第二微波透镜之间,微波反射镜位于第三微波透镜的下方;还包括发射天线、第一接收天线和第二接收天线,发射天线和第一接收天线位于第一微波透镜背离金属线栅的一侧,并与第一微波透镜相对设置,第二接收天线位于微波反射镜背离第三微波透镜的一侧,相较于现有技术,本系统具有结构紧凑、成本低、容易维护、灵活度高等特点。

    用于磁约束聚变装置的微波准光学系统及微波对准方法

    公开(公告)号:CN117393182A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311611790.2

    申请日:2023-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种用于磁约束聚变装置的微波准光学系统及微波对准方法,涉及磁约束可控核聚变研究领域,设置有相互配合的极向调节组件、环向调节组件以及调节控制组件,可以实现极向调节与环向调节的配合,解决了现有技术中角度调节范围小、结构复杂以及缺乏实时性等问题;并且通过调节控制组件实现了自动匹配入射微波束的最优探测角度,减少人工手动调整和优化的工作量,提高了改变入射角度的效率;在磁约束聚变装置进行等离子体放电实验过程中,能实时接收和处理诊断数据,根据实时情况进行波迹计算和角度调节,增强了对实验条件变化的响应速度。

    基于微波散射原理的磁力线倾斜角度测量系统和方法

    公开(公告)号:CN117877767A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202410060372.7

    申请日:2024-01-16

    Abstract: 本发明公开了基于微波散射原理的磁力线倾斜角度测量系统和方法,涉及核聚变技术领域,本发明的测量系统和方法可应用于对磁约束聚变装置的磁力线偏转角进行长期稳定的监测,保证磁约束装置获得较高的性能。本发明通过微波收发技术、等离子体中的微波散射原理和可调偏振片的组合测量磁力线倾斜角度,通过快速调节偏振片的角度并同时对不同接收位置处、不同极化方向的散射信号进行功率强度测量,通过不同极化方向微波散射信号与可调偏振片之间的依赖关系,获得磁力线倾斜角度。

    基于微波扫频反射计的等离子体径向电场诊断系统及方法

    公开(公告)号:CN119729978A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411901538.X

    申请日:2024-12-23

    Abstract: 本发明公开了基于微波扫频反射计的等离子体径向电场诊断系统及方法,该系统包括:Q波段微波扫频反射计,接收采集和控制单元的控制指令后,输出频率可调整的Q波段射频信号;及接收前端微波准光学反射镜及天线反射的射频信号,经下变频和解调后输出同相信号和正交信号给采集和控制单元;前端微波准光学反射镜及天线,将Q波段射频信号传输并发射进入待测等离子体,同时接收等离子体反射的微波射频信号,并将微波射频信号传输至Q波段微波扫频反射计的射频输入端口;采集和控制单元,用于向Q波段微波扫频反射计发送控制指令,及后续采集处理。本发明采用数控频率源以灵活调整输出频率波形。

    磁约束核聚变等离子体边缘局域模的实时预测方法及系统

    公开(公告)号:CN116230258A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202211672730.7

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 本发明属于核聚变技术领域,具体涉及一种磁约束核聚变等离子体边缘局域模的实时预测方法及系统。本发明包括如下步骤:S1、高频磁扰动测量探针将磁扰动信号测量数据通过高真空穿墙插头和传输线,输出至隔直模块;S2、隔直模块过滤直流分量,将交流电压信号传输至功率分配器;S3、信号经过功率分配器,一路信号传输至实时数据采集器;S4、实时数据采集器对信号进行储存,并传输至FPGA模块;S5、FPGA模块中内置的快速傅里叶变换电路,对信号进行傅里叶变换,将频率信号和幅度信号传输给数字信号处理电路,该电路通过判断有无特定频率的磁扰动:离子回旋辐射,并把结果传输至中央处理系统。本发明极大地提高可控核聚变运行的安全性和可靠性。

    一种基于双梳状频率的多点频宽频带微波诊断系统

    公开(公告)号:CN115276832A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202110471892.3

    申请日:2021-04-29

    Abstract: 本发明属于微波诊断领域,具体公开一种基于双梳状微波频率技术的多点频微波诊断系统,包括两路串联的梳状频率微波源系统和入射微波接收处理系统,第一梳状频率微波源系统的输出信号作为射频发射信号传输给第一入射微波接收处理系统,第二梳状频率微波源系统的输出信号作为本振参考信号传输给第二入射微波接收处理系统,射频发射信号、本振参考信号经过入射微波接收处理系统下变频产生中频参考信号和中频测量信号,分别经过选频和功率放大后进行相位解调和数据处理,从而实现多点频宽频带微波诊断。本发明的系统极大化了通道数量和频率测量范围,避免了在微波段的鉴相处理,克服了中频频宽的制约问题,有效降低了信号噪声,保障了相位测量精度。

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