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公开(公告)号：CN119395528A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411532191.6
申请日：2024-10-30
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01R31/327 , G06N3/006 , G01R31/52
Abstract: 本发明公开了一种基于WTD‑VMD‑ZCD相位选择控制合闸的双电源低压电器试验系统及其使用方法。所述系统包括试验电压源回路、电容充放电回路、试验电流源回路和主控制模块，利用WTD算法对试验电压源产生的电压信号进行去噪重构，然后通过BKA算法对VMD的参数进行优化，将WTD去噪后的电压信号进行VMD分解，并将得到的IMF分量做相关性计算，选择相关性高于设定阈值的IMF分量作为去噪后的试验电压源信号，然后使用ZCD算法进行过零检测，通过选相分合闸进行试验电压源和试验电流源时序接通的逻辑控制，进而实现低压电器的试验。满足了低压电器在试验电源电参量和试验质量上的需求，实现了试验的精准控制，且成本低、系统搭建和操作简单易行。
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