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公开(公告)号：CN112534374A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202080004380.X
申请日：2020-02-03
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明的显示系统是设于生产设备的显示装置，所述生产设备生产制品，且具有驱动生产设备的至少一个驱动部件、及监测生产的至少一个监测部件，并且所述显示装置包括控制部、显示部、存储部及输入部，存储部存储：概略图数据，表示生产设备的概略图；以及因果关系模型数据，从驱动部件及监测部件中选择至少一个的、生产设备中可能产生的至少一个异常的原因要素，并且与原因要素的关系一起作为因果关系模型而表示，控制部以在显示部显示概略图，并且以与概略图对应的方式重叠地显示因果关系模型的方式构成。
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公开(公告)号：CN108733010B
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN201810220837.5
申请日：2018-03-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G05B19/418
Abstract: 一种工业用控制装置、控制方法、记录介质、包装机以及包装机用控制装置，即便发生异常时也不用停止连续生产。控制装置对在从上游侧朝下游侧并排配置的多个工序中对生产对象物依次实施生产处理的生产装置或制造装置进行控制，具备：物理量取得部，当将多个工序各自实施的处理的单位处理时间定义为节拍时，在每一节拍取得表示多个工序中成为监视对象的工序的处理状态的物理量；异常判定部，基于物理量或从该物理量提取的特征量，判定监视对象工序中的异常发生；以及控制指示部，控制当判定出监视对象的工序中发生了异常时，规定下游侧的工序对受到异常影响的生产对象物实施处理的节拍，并将基于下游侧的工序的规定的节拍的处理设为异常应对处理。
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公开(公告)号：CN103109163B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201180040494.0
申请日：2011-03-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 传感器装置（1）具有：差分计算部（1311），其计算对测量对象进行测量的传感器部（12）所测量出的当前测量值与预定阈值之间的差分；动作设定参数存储部（16），其存储根据多个测量值历史的、测量值相对于经过时间的最大变化量；最短时间计算部（1312），其根据计算出的差分与最大变化量，计算测量对象从当前测量值到达预定阈值的最短时间、即到达最短时间；测量时刻确定部（132），其根据到达最短时间与通过传感器装置（1）可测量的最短时间间隔中较大一方的时间，确定测量对象下次的测量时刻；以及传感器控制部（13），其控制传感器部（12），使得在确定出的时刻对测量对象进行测量。
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公开(公告)号：CN101122569A
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200710140904.4
申请日：2007-08-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/956 , H05K13/08
CPC classification number: G01N21/95684 , B23K31/125 , G01N2021/95669 , G06T7/001 , G06T2207/30141 , G06T2207/30152
Abstract: 本发明能够自动设定适合实际的焊脚形状的检查基准数据。制作检查基准数据库，针对每种元件，将该种元件产生的焊脚形状分类为多种类型，将每种类型的阈值导出规则等检查基准数据登录在该检查基准数据库内。在该数据库的各种焊脚类型中，分别建立焊脚形成之前的焊料高度范围的对应关系。在示教时，对示教对象元件所对应的每个焊盘设定焊盘窗口，并且利用CAD数据和元件形状数据，计算涂敷在焊盘上的膏状焊料高度。此外，从检查基准数据库中读出与计算出的焊料高度对应的焊脚类型的检查基准数据，将其与焊盘窗口的设定信息建立对应关系，并将其存储在检查装置的存储器内。
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公开(公告)号：CN112585547A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202080004474.7
申请日：2020-02-20
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G05B19/418 , G06F8/74
Abstract: 本发明的一实施例的分析装置通过函数结构信息这一外部信息来赋予在控制程序的依存性分析中无法导出的标准函数的输入参数及输出参数之间的依存关系的定义。即，所述结构的分析装置基于对标准函数中的输入参数及输出参数之间的依存关系进行定义的函数结构信息，确定标准函数中的输入参数及输出参数之间的依存关系。由此，标准函数的输入/输出间的依存关系变得明确，因此可确定隔着标准函数的多个设备变量间的依存关系。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103109163A
公开(公告)日：2013-05-15
申请号：CN201180040494.0
申请日：2011-03-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 传感器装置（1）具有：差分计算部（1311），其计算对测量对象进行测量的传感器部（12）所测量出的当前测量值与预定阈值之间的差分；动作设定参数存储部（16），其存储根据多个测量值历史的、测量值相对于经过时间的最大变化量；最短时间计算部（1312），其根据计算出的差分与最大变化量，计算测量对象从当前测量值到达预定阈值的最短时间、即到达最短时间；测量时刻确定部（132），其根据到达最短时间与通过传感器装置（1）可测量的最短时间间隔中较大一方的时间，确定测量对象下次的测量时刻；以及传感器控制部（13），其控制传感器部（12），使得在确定出的时刻对测量对象进行测量。
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公开(公告)号：CN100582755C
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200610057056.6
申请日：2006-03-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/956 , G01R31/30 , G05B19/418 , G06F17/00 , G06T7/00
Abstract: 基板检查装置及其检查逻辑设定方法和检查逻辑设定装置。本发明的课题是提供一种可以由较少的样本图像而生成在基板检查装置中的基板检查中使用的检查逻辑的技术。作为解决手段，信息处理装置在生成新部件的检查逻辑时，取得所述新部件的拍摄图像；根据所述新部件的拍摄图像而算出表示关注区域的颜色分布趋势的颜色分布趋势数据；分别针对多种过去部件取得颜色分布趋势数据，通过比较与所述新部件相关的颜色分布趋势数据和与所述过去部件相关的颜色分布趋势数据，来选出颜色分布趋势类似的过去部件，从存储装置中读出所选出的过去部件的拍摄图像，并将所述新部件的拍摄图像和所述过去部件的拍摄图像作为训练数据，来生成所述新部件的检查逻辑。
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公开(公告)号：CN1834630A
公开(公告)日：2006-09-20
申请号：CN200610057056.6
申请日：2006-03-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/956 , G01R31/30 , G05B19/418 , G06F17/00 , G06T7/00
Abstract: 基板检查装置及其检查逻辑设定方法和检查逻辑设定装置。本发明的课题是提供一种可以由较少的样本图像而生成在基板检查装置中的基板检查中使用的检查逻辑的技术。作为解决手段，信息处理装置在生成新部件的检查逻辑时，取得所述新部件的拍摄图像；根据所述新部件的拍摄图像而算出表示关注区域的颜色分布趋势的颜色分布趋势数据；分别针对多种过去部件取得颜色分布趋势数据，通过比较与所述新部件相关的颜色分布趋势数据和与所述过去部件相关的颜色分布趋势数据，来选出颜色分布趋势类似的过去部件，从存储装置中读出所选出的过去部件的拍摄图像，并将所述新部件的拍摄图像和所述过去部件的拍摄图像作为训练数据，来生成所述新部件的检查逻辑。
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公开(公告)号：CN112534373B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202080004364.0
申请日：2020-02-03
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G05B23/02 , G05B19/418
Abstract: 本发明提供一种显示系统、显示方法及显示程序的记录介质，可容易地确认生产设备中可能产生的异常的原因。本发明的显示系统设于生产设备，所述生产设备生产制品，且具有驱动生产设备的驱动部件、及监测生产的监测部件，驱动部件及监测部件具有可控制的特征量，并且所述显示系统包括控制部、显示部及存储部，控制部以下述方式构成：获取从驱动部件及监测部件的至少一个经时输出的特征量并存储于存储部，基于所获取的特征量，每隔规定的期间构建因果关系模型，因果关系模型表示从驱动部件及监测部件中选择至少一个且生产设备中可能产生的至少一个异常的原因要素、及原因要素的关系；以及将多个期间中构建的多个因果关系模型显示于显示部。
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公开(公告)号：CN112585547B
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202080004474.7
申请日：2020-02-20
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G05B19/418 , G06F8/74
Abstract: 本发明提供一种分析装置、分析方法以及记录介质。本发明的一实施例的分析装置通过函数结构信息这一外部信息来赋予在控制程序的依存性分析中无法导出的标准函数的输入参数及输出参数之间的依存关系的定义。即，所述结构的分析装置基于对标准函数中的输入参数及输出参数之间的依存关系进行定义的函数结构信息，确定标准函数中的输入参数及输出参数之间的依存关系。由此，标准函数的输入/输出间的依存关系变得明确，因此可确定隔着标准函数的多个设备变量间的依存关系。
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