红外线传感器及红外线传感器芯片

    公开(公告)号:CN105008876A

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201480009824.3

    申请日:2014-02-18

    CPC classification number: G01J5/12 G01J5/023 G01J5/046 G01J2005/123

    Abstract: 红外线传感器(101)具有:半导体基板,在其上表面具有凹部;上部层,其形成于所述半导体基板的上侧,具有与所述凹部对应地开口的传感器开口部(3);以及传感器部(2),其以将传感器开口部(3)的内周的第1部位(61)和第2部位(62)之间连接起来的方式,在离开所述凹部的内表面的状态下呈S字形横穿传感器开口部(3)。传感器部(2)在真空中被密封。传感器部(2)的中央部(4)被配置为能够接受来自观测对象的红外线。传感器部(2)具有将中央部(4)与第1部位(61)及第2部位(62)之间的温度差变换为电信号的热电变换构造。

    红外线传感器及其制造方法

    公开(公告)号:CN105008877A

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201480010005.0

    申请日:2014-02-18

    CPC classification number: G01J5/12 G01J5/024

    Abstract: 红外线传感器的制造方法包括下述工序:在第1区域上形成温差电堆支撑层的工序;在其上表面上形成温差电堆(24)的工序;然后,在第2区域上形成电路元件的工序;以覆盖所述第1和第2区域的方式形成上部层(41)的工序;将上部层(41)向下挖到中途的工序;通过进一步将上部层(41)向下挖而形成蚀刻孔(38)的工序;以及经过蚀刻孔(38)对半导体基板(1)的一部分进行蚀刻而使所述温差电堆支撑层和温差电堆(24)从半导体基板(1)悬起,由此形成传感器部(2)的工序。传感器部(2)的上表面(2u)位于比所述第2区域中的上部层(41u)的上表面低的位置。

    红外线传感器及红外线传感器芯片

    公开(公告)号:CN105008876B

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201480009824.3

    申请日:2014-02-18

    CPC classification number: G01J5/12 G01J5/023 G01J5/046 G01J2005/123

    Abstract: 红外线传感器(101)具有:半导体基板,在其上表面具有凹部;上部层,其形成于所述半导体基板的上侧,具有与所述凹部对应地开口的传感器开口部(3);以及传感器部(2),其以将传感器开口部(3)的内周的第1部位(61)和第2部位(62)之间连接起来的方式,在离开所述凹部的内表面的状态下呈S字形横穿传感器开口部(3)。传感器部(2)在真空中被密封。传感器部(2)的中央部(4)被配置为能够接受来自观测对象的红外线。传感器部(2)具有将中央部(4)与第1部位(61)及第2部位(62)之间的温度差变换为电信号的热电变换构造。

    红外线传感器及其制造方法

    公开(公告)号:CN105008877B

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201480010005.0

    申请日:2014-02-18

    CPC classification number: G01J5/12 G01J5/024

    Abstract: 红外线传感器的制造方法包括下述工序:在第1区域上形成温差电堆支撑层的工序;在其上表面上形成温差电堆(24)的工序;然后,在第2区域上形成电路元件的工序;以覆盖所述第1和第2区域的方式形成上部层(41)的工序;将上部层(41)向下挖而形成蚀刻孔(38)的工序;以及经过蚀刻孔(38)对半导体基板(1)的一部分进行蚀刻而使所述温差电堆支撑层和温差电堆(24)从半导体基板(1)悬起,由此形成传感器部(2)的工序。传感器部(2)的上表面(2u)位于比所述第2区域中的上部层(41u)的上表面低的位置。(41)向下挖到中途的工序;通过进一步将上部层

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