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公开(公告)号：CN117589324A
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202311561722.X
申请日：2023-11-20
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司 , 湖北光谷实验室
IPC分类号： G01K7/32
摘要： 本发明公开一种硅基微环测温方法、系统及装置，方法包括：控制DAC生成扰动信号；控制ADC对微环输出光功率进行采样；在ADC采样的同时，将采样信号与频率进行正交计算，以得到频率分量大小；根据频率分量大小与温度的关系，计算当前温度。本发明通过扰动信号来检测光功率变化特征，提取光波长偏移量，也即得到当前温度对应的频率分量大小，再由频率分量大小与温度的关系，进而对温度进行测定。相较于现有的其他微环测温方案，或集中于游标效应忽略实施波长监测方法，或使用神经网络对波长数据与温度数据进行模拟，或致力于结构创新、提高微环指标；本发明实施例提出的方案，基于扰动波长偏移来监测测温，具有实施性高、结构简单的优点。
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公开(公告)号：CN117913599A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202211240311.6
申请日：2022-10-11
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号： H01R13/655 , H01R13/6581 , H01R13/639 , H01R4/64
摘要： 本发明涉及光电通信技术领域，提供了一种具有网络接口的模块。其中所述具有网络接口的模块包括底座、电路组件和屏蔽弹片，所述底座上设置有螺钉座，所述底座侧面上设置有第一凸台；所述电路组件包括电路板、网络接口和接地簧片；所述电路板上设置有第一缺口，所述第一缺口与所述螺钉座侧壁相耦合；所述接地簧片固定在所述电路板上，所述接地簧片与所述底座连接；所述屏蔽弹片包括两个相对设置的侧壁，每个所述侧壁上设置有折边，所述折边上具有第一扣位孔，所述第一扣位孔扣入所述第一凸台，将所述屏蔽弹片固定在所述底座上。本发明通过所述屏蔽弹片以及接地簧片的设置，实现了电路板的接地，同时改善了模块的EMC性能。
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公开(公告)号：CN114114719A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111261636.8
申请日：2021-10-28
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种实现MZ硅光调制器相位偏置点锁定的方法及装置，方法包括：激光器的输出光信号通过光纤输入到MZ硅光调制器中；MZ硅光调制器通过分光的方式，将主光路分出的两路光信号导入相位相差180度的第一光电探测器和第二光电探测器中，主光路作为MZ硅光调制器的输出光信号的光路；第一光电探测器和第二光电探测器分别输出第一光电流和第二光电流，第一光电探测器用于探测MZ硅光调制器输出相位同向的光信号，第二光电探测器用于探测与MZ硅光调制器输出相位相差180度的多模干涉耦合器反向端的光信号；MZ硅光调制器进行Quad点或Null点锁定时，MZ硅光调制器中热光移相器的调节量由第一光电流、第二光电流和热光移相器热功率计算得到。
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公开(公告)号：CN112327035A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011129788.8
申请日：2020-10-21
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号： G01R19/00
摘要： 本申请提供一种射频半波电压的测量方法、装置及系统，所述方法包括：生成测量参数，所述测量参数包括光信号、直流电压信号和多个不同幅度的射频调制电压信号；对所述光信号、直流电压信号和多个不同幅度的射频调制电压信号进行调制处理，得到多个扰动电流信号；根据所述多个扰动电流信号和预先构造的基准正交函数，计算得到与所述基准正交函数对应的多个误差结果；基于所述多个误差结果确定射频半波电压。
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公开(公告)号：CN110601752A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910760199.0
申请日：2019-08-16
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号： H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/516
摘要： 本发明实施例公开一种啁啾测量装置及方法、计算机可读存储介质，包括：第一激光器、第二激光器、光信号调制电路、光耦合器、采样电路和处理器；第一激光器的输出端与光信号调制电路的输入端相连，光耦合器的输入端分别与光信号调制电路的输出端，第二激光器的输出端相连，光耦合器的输出端与采样电路的输入端相连，采样电路的输出端与所述处理器相连；处理器用于对采样电路输出的直流分量、一次谐波分量、二次谐波分量和三次谐波分量进行相移系数计算，得到相移变换因子，根据预设啁啾测量模型和相移变换因子计算得到啁啾参数；预设啁啾测量模型是用于测量所述光信号调制电路的啁啾参数。
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公开(公告)号：CN105866903B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201610329050.3
申请日：2016-05-18
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号： G02B6/42
摘要： 本发明涉及一种激光器与平面光波导混合集成结构及其制造方法，该结构包含一热沉(1)、至少一路分立激光器芯片(2)，一平面光波导芯片(3)。所述热沉(1)上制作有支撑凸台(11)，所述热沉(1)上还制作有电极(15)和对准标记(14)，所述电极(15)上还有焊料凸点(13)。所述激光器芯片(2)倒扣在所述热沉的支撑凸台(11)上，形成多路激光器阵列。所述多路激光器阵列与所述平面光波导芯片(3)耦合对准并固定。本发明降低了多路激光器与平面光波导芯片封装难度，提高封装效率。
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公开(公告)号：CN114114719B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202111261636.8
申请日：2021-10-28
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种实现MZ硅光调制器相位偏置点锁定的方法及装置，方法包括：激光器的输出光信号通过光纤输入到MZ硅光调制器中；MZ硅光调制器通过分光的方式，将主光路分出的两路光信号导入相位相差180度的第一光电探测器和第二光电探测器中，主光路作为MZ硅光调制器的输出光信号的光路；第一光电探测器和第二光电探测器分别输出第一光电流和第二光电流，第一光电探测器用于探测MZ硅光调制器输出相位同向的光信号，第二光电探测器用于探测与MZ硅光调制器输出相位相差180度的多模干涉耦合器反向端的光信号；MZ硅光调制器进行Quad点或Null点锁定时，MZ硅光调制器中热光移相器的调节量由第一光电流、第二光电流和热光移相器热功率计算得到。
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公开(公告)号：CN110596918B
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN201910883568.5
申请日：2019-09-18
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号： G02F1/03
摘要： 本申请实施例公开了一种调制器的偏置工作点的控制方法，包括：根据所述调制器的固有特性，确定待施加在所述调制器的调相电极上的扰动信号；其中，所述扰动信号为特定时变周期性的电压信号；从所述调制器的输出端的输出信号中，检测与所述扰动信号的频率相同的信号分量；根据所述信号分量的幅度，调节所述初始偏置电压，以确定所述调制器的偏置工作点。本申请实施例还同时提供了一种调制器的偏置工作点的控制装置。
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公开(公告)号：CN110958050A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201911133888.5
申请日：2019-11-19
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
IPC分类号： H04B10/073
摘要： 本发明涉及光通信领域，具体涉及一种IQ调制器的子消光比测试的方法和系统，具体步骤为：遍历两和母MZI采样电压集合，查找两子路的ON点；将第二子路调制电压设置为该的ON点，遍历第一子路采样电压集合，对第一子路采样电压集合中的每一个调制电压，遍历母MZI采样电压集合，查找第一子路的OFF点，并获得第一子路OFF点对应的最大的MPD值和最小的MPD值，并使用同样方式获得第二子路OFF点对应的最大的MPD值和最小的MPD值；使用一个子路ON状态另一子路OFF状态对应的两组最大的MPD值和最小的MPD值，计算两个子路的子消光比。本发明可以测试任何功率的子MZI的子消光比，而且可以避免噪声影响导致的测试误差，测试方法相较现有技术更方便准确、应用场景更广泛。
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公开(公告)号：CN110061773A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910357412.3
申请日：2019-04-29
申请人： 武汉光迅科技股份有限公司
摘要： 本发明实施例公开了一种光模块测试方法、装置、系统及计算机存储介质，方法包括：通过ZigBee网络接收测试请求，所述测试请求包括测试板标识；根据测试仪器的优先级，依次确定所述测试仪器是否被使用，得到第一判断结果；根据所述第一判断结果确定所述测试仪器未被使用，根据所述测试仪器标识以及所述测试板标识，获得对应的开关通道标识；根据所述开关通道标识开启对应的开关通道，以使所述测试仪器、所述测试板通过所述开关通道测试光模块。
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