一种掺镱光纤泵浦吸收系数测试装置及方法

    公开(公告)号:CN114486175A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202210024591.0

    申请日:2022-01-10

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本发明涉及一种掺镱光纤泵浦吸收系数测试装置,包括:泵浦源、高反光栅、低反光栅、输出端帽以及功率计,所述泵浦源的尾纤与所述高反光栅的输入端熔接,所述低反光栅的输出端与所述输出端帽熔接形成第一熔接点,所述输出端帽的输出端对准所述功率计的接收端;所述高反光栅的输出端具有与待测掺镱光纤熔接的第二熔接点,所述低反光栅的输入端具有与待测掺镱光纤熔接的第三熔接点。本发明还提供一掺镱光纤泵浦吸收系数测试方法。本发明实施例提供的掺镱光纤泵浦吸收系数测试装置及方法,设置位于待测掺镱光纤两端的高反光栅以及低反光栅,利用高反光栅与低反光栅形成谐振腔,能够有效滤除了ASE光对测试效果的影响以及对掺镱光纤的损伤。

    一种适用加工高反材料的激光器及高反材料加工设备

    公开(公告)号:CN114552364A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210040067.2

    申请日:2022-01-13

    摘要: 本发明涉及一种适用加工高反材料的激光器,包括:第一泵浦源、高反光栅、第一合束器、第一增益光纤、声光调制器、低反光栅、第二泵浦源、第二合束器、第二增益光纤以及隔离器,第一泵浦源的输出端、高反光栅与第一合束器的输入端通过光纤连接,第一增益光纤一端与第一合束器的输出端连接,另一端穿过与声光调制器的输入端连接,声光调制器的输出端与低反光栅的一端通过光纤连接,低反光栅另一端与第二合束器输入端通过信号光纤连接,第二泵浦源的输出端与第二合束器输入端通过光纤连接。本发明还提供一种高反材料加工设备。本发明将声光调制器设置在第一增益光纤与低反光栅之间,利用声光调制器阻挡绝大部分的返回光。

    一种合束器测试装置及方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114486174A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202210024010.3

    申请日:2022-01-10

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本发明涉及一种合束器测试装置,包括:第一光源、第二光源、信号纤、泵浦纤以及功率计,信号纤上具有套设待测试合束器的安装位,待测试合束器将信号纤形成信号纤输入纤以及信号纤输出纤,信号纤输入纤与第一光源的输出端连接,信号纤输出纤的输出端对准功率计的接收端,泵浦纤一端与第二光源的输出端连接,泵浦纤另一端形成与待测试合束器连接的连接端。本发明还提供一合束器测试方法。本发明的合束器测试装置及方法,通过设置分别与号纤输入纤、泵浦纤连接的第一光源、第二光源,用于检测合束器是否存在问题;检测速度快,结果准确。能够帮助工作人员快速甄别合束器,减少不必要的器件损失。

    一种磁屏蔽罩固定机构、激光焊接装备及方法

    公开(公告)号:CN114226977A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202210024008.6

    申请日:2022-01-10

    IPC分类号: B23K26/21 B23K26/70

    摘要: 本发明涉及一种磁屏蔽罩固定机构,包括:底座、夹持件、位移件以及抵接件,位移件以及抵接件固定在底座上,位移件的活动端与夹持件固定,夹持件具有夹持待加工磁屏蔽罩一端的夹持部,抵接件上嵌设有若干万向球,万向球形成一抵接面,位移件的活动端至少能够推动夹持件向抵接件移动,以使夹持件夹持的待加工磁屏蔽罩另一端与抵接面抵接。本发明还提供激光焊接装备及方法。本发明通过在与待加工磁屏蔽罩另一端抵接的抵接件上嵌设有若干万向球,能够对待加工磁屏蔽罩形成抵接的同时,允许待加工磁屏蔽罩相对抵接件平移或转动;而且多个万向球能够有效分散对待加工磁屏蔽罩施加的作用力,避免待加工磁屏蔽罩损坏。

    半导体激光器返回光耐受性测试装置及方法

    公开(公告)号:CN114243444A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111575003.4

    申请日:2021-12-21

    IPC分类号: H01S5/00 G01M11/02

    摘要: 一种半导体激光器返回光耐受性测试装置,其包括如下组件:光源组件、在线隔离器、合束器、功率计、待测半导体激光器LD;光源组件的输出光纤与在线隔离器的输入光纤熔接;在线隔离器输出光纤与合束器的泵浦光纤熔接;合束器的信号输入光纤与功率计对准;LD的尾纤与合束器信号输入光纤熔接。本发明还提供一种半导体激光器返回光耐受性测试方法。

    一种光纤激光器输出光斑直径测试装置

    公开(公告)号:CN114563162A

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN202210149399.4

    申请日:2022-02-17

    发明人: 李琦 徐港 杨宇 陈翔

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明涉及一种光纤激光器输出光斑直径测试装置,包括:衰减模组、光束分析仪、支架以及计算机,所述衰减模组、所述光束分析仪固定在所述支架上,所述衰减模组靠近所述光束分析仪的一端与所述光束分析仪的进光口同轴设置;所述光束分析仪与所述计算机电连接,所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端。本发明的光纤激光器输出光斑直径测试装置,通过设置衰减模组、光束分析仪以及计算机,所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端,所述光束分析仪与所述计算机电连接;该装置与目前测试装置相比结构更为简单,省去了分光器等不必要的设备,更易于组装操作。