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公开(公告)号：CN108955520B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201810344169.7
申请日：2018-04-17
申请人： 武汉工程大学
摘要： 本发明涉及一种结构光三维扫描可达性分析方法，包括：根据结构光三维扫描设备的几何测量模型，构建扫描工作空间。对待测工件参考模型的曲面进行离散，得到待测工件参考模型的位于曲面上的采样点。基于待测工件参考模型，构建每个采样点的扫描可视锥空间。根据扫描工作空间、扫描可视锥空间和预设的结构光扫描可达性条件，判断每个采样点在结构光三维扫描设备扫描下的扫描可达性。将扫描可达的采样点和扫描不可达的采样点分别以不同的颜色在曲面上显示。本发明通过对扫描设备的几何参数和待测工件参考模型分析，结合结构光扫描可达性条件对被测物体进行扫描可达性评判，可达性分析结果可为扫描操作提供参考，以便于操作人员调整、优化扫描策略。
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公开(公告)号：CN107796276B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201711247251.X
申请日：2017-12-01
申请人： 武汉工程大学
IPC分类号： G01B5/012
摘要： 本发明涉及一种估算工业机器人绝对定位精度的装置，包括固定在机器人工作空间中的某一个位置的标准工件以及标准工具，所述标准工件包括工件尖点，所述标准工具包括安装在机器人末端法兰盘上的工具底座以及与工具底座为一体成型结构的工具尖点，通过机器人示教器来示教机器人使工具尖点能以不同的姿态与标准工件的工件尖点接触，并获取工具尖点在机器人基坐标系下的位置坐标，通过不断获取的位置坐标值来实现对机器人的绝对定位精度的估算，所述装置结构简单，操作简单，操作人员能够快速完成工业机器人绝对定位精度的估算，并且成本低，适用于各大厂家，能够对不同厂家不同型号的机器人进行个性化定制。
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公开(公告)号：CN110442917A
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201910615005.8
申请日：2019-07-09
申请人： 武汉工程大学
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 本发明公开了一种基于点云的参数化叶片类零件缺损模型重建方法，包括以下步骤：S1、待修复叶片类零件叶身测量；S2、叶片类零件型线特征匹配：将测量点云数据和叶片理论模型点云数据进行配准计算，得到叶片损伤区域的扭转变形量，并与叶片理论模型做配准变换，使实际待修复叶片模型与理论模型在工件坐标系下的空间位置一致；S3、叶片类零件损伤部位模型提取：获取叶片未受损伤区域截面测量数据，并对测量数据进行曲线拟合，将拟合后的曲线向模型损伤区域方向进行线性插值，提取叶片损伤区域模型。本发明提出的叶片缺损模型重建方法，使得叶片模型的扭曲，变形得以复现到重建的叶片模型中，对缺损、磨损部分进行预测并做高精度造型。
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公开(公告)号：CN110211174A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910411267.2
申请日：2019-05-16
申请人： 武汉工程大学
摘要： 本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质，将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中，根据位置关系通过两次标定，得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示，构建计算公式，通过内点法优化算法，进行精标定计算，得到精确的Q、U、C，确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明，能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。
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公开(公告)号：CN106814699A
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201710158757.7
申请日：2017-03-17
申请人： 武汉工程大学
IPC分类号： G05B19/4097
CPC分类号： G05B19/4097 , G05B2219/32339
摘要： 本发明公开了一种五轴增材几何仿真方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤(1)：建立微观长方体增长模型；步骤(2)：根据增材轨迹特点优化微观长方体增长模型；步骤(3)：获取CAM软件中的增材加工轨迹，解析增材加工轨迹文件，获取刀位点信息；步骤(4)：刀位点之间进行插值，计算五轴增材扫掠体模型；步骤(5)：将增材扫掠体模型转换为Tri‑dexel模型；步骤(6)：将步骤(5)中的增材扫掠体模型通过三角面片显示；本发明能够实现增材制造几何仿真，能够完成五轴复杂轨迹的增材仿真过程，能够生成增材成型模型，且生成的增材成形模型可以作为减材加工的输入模型。
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公开(公告)号：CN110442917B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN201910615005.8
申请日：2019-07-09
申请人： 武汉工程大学
IPC分类号： G06F30/17
摘要： 本发明公开了一种基于点云的参数化叶片类零件缺损模型重建方法，包括以下步骤：S1、待修复叶片类零件叶身测量；S2、叶片类零件型线特征匹配：将测量点云数据和叶片理论模型点云数据进行配准计算，得到叶片损伤区域的扭转变形量，并与叶片理论模型做配准变换，使实际待修复叶片模型与理论模型在工件坐标系下的空间位置一致；S3、叶片类零件损伤部位模型提取：获取叶片未受损伤区域截面测量数据，并对测量数据进行曲线拟合，将拟合后的曲线向模型损伤区域方向进行线性插值，提取叶片损伤区域模型。本发明提出的叶片缺损模型重建方法，使得叶片模型的扭曲，变形得以复现到重建的叶片模型中，对缺损、磨损部分进行预测并做高精度造型。
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公开(公告)号：CN112288823B
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202011100801.7
申请日：2020-10-15
申请人： 武汉工程大学
摘要： 本发明提供了一种标准圆柱体曲面点测量设备的标定方法，基于位姿跟踪和距离测量，在参考球和距离传感器组合件姿态不变的情况下对圆柱上表面的点进行测量，另外沿圆柱体侧面移动较大角度进行点测量，测量点分别拟合出平面和圆周，计算出参考球坐标系TaCS下距离传感器的光轴方向U，以及距离传感器的坐标系TCS原点在坐标系TaCS中的坐标Q，使后续标定计算过程更加简洁；解决了存在制造和装配误差时准确获取距离传感器和标定参考球相对位置关系的问题；本发明采用价格便宜的标准圆柱体进行定位装置的位置采集和距离传感器的距离采集，节省标定成本；精确地计算出两个传感器的装配尺寸关系，具有足够的通用性，提高工厂加工效率。
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公开(公告)号：CN109664303B
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN201910151081.8
申请日：2019-02-28
申请人： 武汉工程大学
IPC分类号： B25J9/16
摘要： 一种误差可控的四轴工业机器人B样条过渡式平顺轨迹生成方法，包括：步骤1、四轴工业机器人轨迹预处理：将轨迹分为需平顺轨迹段和不需平顺轨迹段，并对四轴姿态进行预处理，保证两个轨迹点之间走劣弧轨迹；步骤2、四轴轨迹B样条平顺：遍历步骤1生成的需平顺轨迹段，对每一条轨迹段按照轨迹点误差阈值、位置点弦高误差阈值和连续性要求采用几何迭代法生成B样条过渡式平顺轨迹。本发明B样条过渡式平顺轨迹由线性轨迹和B样条轨迹组成，整条轨迹具有位置和姿态同步的G1或G2连续性，满足轨迹点误差和轨迹点之间的位置弦高误差，且采用样条轨迹能够实现四轴工业机器人复杂应用的轨迹平顺，进而提高四轴工业机器人的作业效率和质量。
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公开(公告)号：CN109571473B
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN201811468150.X
申请日：2018-12-03
申请人： 武汉工程大学
摘要： 一种误差可控的小线段轨迹光顺方法，包括如下步骤：步骤1、机器人轨迹点预处理：对整条轨迹的所有轨迹点进行遍历，根据轨迹点之间的距离和夹角进行分段，将整条轨迹划分为若干段折线段集合；步骤2、轨迹点光顺：遍历步骤1生成的折线段集合，对每一条折线段按照轨迹点误差阈值、弦高误差阈值、连续性要求和光顺要求，计算光顺轨迹。本发明将小线段轨迹光顺生成满足连续性、保形和误差要求的光顺轨迹，提高数控加工或工业机器人应用的工作效率和工作质量；光顺曲线适用于不同连续性和执行效率的需求；与现有过渡方法相比，本发明的光顺曲线能够控制轨迹点误差，达到插值的效果，从而能够保留轨迹点特征。
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公开(公告)号：CN112288823A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011100801.7
申请日：2020-10-15
申请人： 武汉工程大学
摘要： 本发明提供了一种标准圆柱体曲面点测量设备的标定方法，基于位姿跟踪和距离测量，在参考球和距离传感器组合件姿态不变的情况下对圆柱上表面的点进行测量，另外沿圆柱体侧面移动较大角度进行点测量，测量点分别拟合出平面和圆周，计算出参考球坐标系TaCS下距离传感器的光轴方向U，以及距离传感器的坐标系TCS原点在坐标系TaCS中的坐标Q，使后续标定计算过程更加简洁；解决了存在制造和装配误差时准确获取距离传感器和标定参考球相对位置关系的问题；本发明采用价格便宜的标准圆柱体进行定位装置的位置采集和距离传感器的距离采集，节省标定成本；精确地计算出两个传感器的装配尺寸关系，具有足够的通用性，提高工厂加工效率。
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