基于光学成像的水下构筑物探伤方法

    公开(公告)号:CN111948215B

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN202010799539.3

    申请日:2020-08-11

    Abstract: 本发明公开了一种基于光学成像的水下构筑物探伤方法,通过分析水下光学成像获得的光谱信息,提取并融合多类型特征,发现并检测水下构筑物表面缺陷位置的方法。提取水下构筑物光学成像信息的谱间方差特征、长波长光学信息局部特征、短波长光学信息全局特征,综合获取水下构筑物表面缺陷与水下构筑物本体之间的距离及表观差异,耦合形成水下构筑物缺陷的高级特征图。通过特征图计算以实现水下构筑物探伤。本发明能够在不进行成像增强和恢复的条件下,有效提取并辨识水下构筑物表面缺陷特征,从而实现准确稳定的水下构筑物探伤。

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