一种电子芯片设计试验检测装置

    公开(公告)号:CN213023446U

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202021420645.8

    申请日:2020-07-20

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04

    摘要: 本实用新型公开了一种电子芯片设计试验检测装置,涉及电子芯片检测领域,包括检测台,所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置,所述支架杆位于位于放置装置的一侧,所述辅助装置位于放置装置的另一侧。本实用新型所述的一种电子芯片设计试验检测装置,通过放置装置的设置,放置装置在使用时有益于对检测的电子芯片进行放置,在使用时有益于放置多组和不同尺寸的电子芯片,在使用时检测较为方便,通过辅助装置的设置,辅助装置在使用时有益于对电子芯片进行检测,在使用时可便于检查电子芯片的故障,在使用时较为方便,有益于提高工作时的效率,使用的效果相对于传统方式更好。

    一种集成电路芯片加工用夹具

    公开(公告)号:CN213026089U

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202022154575.2

    申请日:2020-09-27

    IPC分类号: H01L21/683

    摘要: 本实用新型公开了一种集成电路芯片加工用夹具,包括工作台,所述工作台的底部设置有气泵,所述工作台的顶部设置有第一气管,所述工作台上开设有透孔,所述第一气管的底端穿过透孔到达工作台的下方并与气泵的输入端固定连接,所述第一气管的中部设置有气密阀与压力表,所述第一气管的上方设置有第二气管,所述第二气管的上方设置有吸盘,所述吸盘的顶部通过强力胶粘贴固定有橡胶圈。本实用新型所述的一种集成电路芯片加工用夹具,利用真空吸附原理对芯片起到固定作用,于芯片底部对其进行固定,不会对芯片四周引脚造成损害,还能够在不拆卸芯片的情况下,完成角度调整,带来更好的使用前景。