一种基于Crine模型的绝缘材料老化寿命测量方法

    公开(公告)号:CN112364523A

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN202011359670.4

    申请日:2020-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于Crine模型的绝缘材料老化寿命测量方法,包括:将上电极与高温循环油浴相连,下电极与低温循环水浴相连,绝缘材料样品置于上电极与下电极之间,绝缘材料样品和上电极全部浸没在硅油中;在不同温度梯度下逐级升压试验,采用Weibull分布求解绝缘材料样品特征值;采用Crine模型求解绝缘材料样品的活化自由能和微腔长度;根据绝缘材料样品的老化特征参数活化自由能ΔG0和微腔长度λ确定不同温度下随电场变化绝缘材料的老化寿命。该发明解决了传统方法计算复杂、误差较大和适用范围小的问题,可以用于测量各种绝缘材料的老化寿命。

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