公开(公告)号：CN113253068A

公开(公告)日：2021-08-13

申请号：CN202110524458.7

申请日：2021-05-13

Applicant: 江苏方天电力技术有限公司 ,  中天科技海缆股份有限公司 ,  西安交通大学 ,  三峡新能源如东有限公司

Inventor： 黄烜城 ,  闫志雨 ,  胡明 ,  吕泽鹏 ,  刘宇 ,  胡德芳 ,  张洪亮 ,  于洪淼 ,  严彦 ,  吴锴 ,  封建宝 ,  刘涛 ,  褚海军 ,  梅睿 ,  王政钧 ,  高铭志

IPC: G01R31/12 ,  G01R1/20

Abstract: 本发明公开了一种大长度高压电缆直流耐压试验后放电方法，大长度高压电缆直流耐压试验后依次采用三种放电方式组合放电。首先利用电缆绝缘层电阻和直流发生器本体电阻放电，将电压降至直流试验电压的1/2以下；再采用大功率放电电阻放电，将电压降至5kV以下；再采用接地导线放电。大功率放电电阻为n节电阻串联，每1节电阻均通过放电开关接地。第1节电阻与电缆导体连接，大功率放电电阻接入放电回路前所有开关均断开。放电时首先接通第n节电阻开关，通过所有串联电阻放电。随着电压降低逐步接通第n‑1、n‑2……1节，减小放电电阻的阻值，加快放电速度。该发明解决了大长度电缆直流耐压后放电风险大、放电时间长的问题。

公开(公告)号：CN112364523A

公开(公告)日：2021-02-12

申请号：CN202011359670.4

申请日：2020-11-27

Applicant: 江苏方天电力技术有限公司 ,  西安交通大学

Inventor： 黄烜城 ,  吕泽鹏 ,  雷志诚 ,  王政钧 ,  吴锴 ,  梅睿 ,  封建宝 ,  闫志雨 ,  张洪亮

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种基于Crine模型的绝缘材料老化寿命测量方法，包括：将上电极与高温循环油浴相连，下电极与低温循环水浴相连，绝缘材料样品置于上电极与下电极之间，绝缘材料样品和上电极全部浸没在硅油中；在不同温度梯度下逐级升压试验,采用Weibull分布求解绝缘材料样品特征值；采用Crine模型求解绝缘材料样品的活化自由能和微腔长度；根据绝缘材料样品的老化特征参数活化自由能ΔG0和微腔长度λ确定不同温度下随电场变化绝缘材料的老化寿命。该发明解决了传统方法计算复杂、误差较大和适用范围小的问题，可以用于测量各种绝缘材料的老化寿命。

公开(公告)号：CN112364523B

公开(公告)日：2022-07-29

申请号：CN202011359670.4

申请日：2020-11-27

Applicant: 江苏方天电力技术有限公司 ,  中天科技海缆股份有限公司

Inventor： 黄烜城 ,  吕泽鹏 ,  雷志诚 ,  王政钧 ,  吴锴 ,  梅睿 ,  封建宝 ,  闫志雨 ,  张洪亮

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种基于Crine模型的绝缘材料老化寿命测量方法，包括：将上电极与高温循环油浴相连，下电极与低温循环水浴相连，绝缘材料样品置于上电极与下电极之间，绝缘材料样品和上电极全部浸没在硅油中；在不同温度梯度下逐级升压试验,采用Weibull分布求解绝缘材料样品特征值；采用Crine模型求解绝缘材料样品的活化自由能和微腔长度；根据绝缘材料样品的老化特征参数活化自由能ΔG0和微腔长度λ确定不同温度下随电场变化绝缘材料的老化寿命。该发明解决了传统方法计算复杂、误差较大和适用范围小的问题，可以用于测量各种绝缘材料的老化寿命。

公开(公告)号：CN113972289A

公开(公告)日：2022-01-25

申请号：CN202111234847.2

申请日：2021-10-22

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 张宏 ,  王世栋 ,  王晓阳 ,  刘晓洁 ,  王政钧

IPC: H01L31/0224 ,  H01L31/18

Abstract: 一种正多边形太阳能电池片的切片方法，将圆柱形单晶硅棒切割为正n边形单晶硅片，制备成正n边形单晶硅太阳能电池。然后将正n边形单晶硅太阳能电池整片采用激光切割的方式切割成2n个形状相同，大小相等的直角梯形切片电池，并通过叠瓦技术拼接成矩形电池串，再通过串并联排列将矩形电池串制备成叠瓦组件。本发明大幅度提高了单晶硅棒的硅材料利用率，降低了材料成本，同时降低了组件的电学损耗，使得组件有较高的输出效率。

公开(公告)号：CN113777455A

公开(公告)日：2021-12-10

申请号：CN202111153339.1

申请日：2021-09-29

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 吕泽鹏 ,  王政钧 ,  吴锴 ,  曹丹 ,  王世栋

IPC: G01R31/12

Abstract: 本发明公开了一种基于Crine模型XLPE绝缘材料老化寿命评估方法，包括：对XLPE绝缘材料试样进行不同温度不同时间步长逐级升压实验；采用Weibull分布求解获取XLPE绝缘材料试样的特征时间、特征电压和最后一步时间；对XLPE绝缘材料老化寿命作三个假设；得到改进Crine模型，测量拟合曲线在不同温度、不同电压等级下的电导电流密度，采用改进Crine模型求解XLPE绝缘材料试样的活化自由能ΔG；确定不同温度下随电场变化XLPE绝缘材料的老化寿命。该发明解决了以往老化模型仅考虑电场和单电子作用下的老化问题，可以用于测量各种绝缘材料的老化寿命。

公开(公告)号：CN113777455B

公开(公告)日：2022-05-24

申请号：CN202111153339.1

申请日：2021-09-29

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 吕泽鹏 ,  王政钧 ,  吴锴 ,  曹丹 ,  王世栋

IPC: G01R31/12

Abstract: 本发明公开了一种基于Crine模型XLPE绝缘材料老化寿命评估方法，包括：对XLPE绝缘材料试样进行不同温度不同时间步长逐级升压实验；采用Weibull分布求解获取XLPE绝缘材料试样的特征时间、特征电压和最后一步时间；对XLPE绝缘材料老化寿命作三个假设；得到改进Crine模型，测量拟合曲线在不同温度、不同电压等级下的电导电流密度，采用改进Crine模型求解XLPE绝缘材料试样的活化自由能ΔG；确定不同温度下随电场变化XLPE绝缘材料的老化寿命。该发明解决了以往老化模型仅考虑电场和单电子作用下的老化问题，可以用于测量各种绝缘材料的老化寿命。