一种空间异位孔系位置度测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN118936313A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411217693.X

    申请日:2024-09-02

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 本发明公开了一种空间异位孔系位置度测量装置及其测量方法,涉及几何量计量测试领域。该测量装置主要由装夹模块、运动测量模块和运算处理模块组成。装夹模块通过三爪自定心机构在被测孔内稳定支撑,并准确体现被测孔轴线。运动测量模块安装于装夹模块上,并可沿着装夹模块上的直线导轨在被测孔内轴向移动。通过直线导轨保证运动测量模块的轴线与被测孔轴线平行,两者的位置关系经过标定后,可用运动测量模块的轴线模拟被测孔轴线。最后,利用激光跟踪仪测量运动测量模块的轴线,从而得到被测孔轴线方程。本发明能够实现空间异位孔系位置度的现场高精度测量,并且极大地提高测量效率,节约测量成本。

    可调式检测工作台及其检测弧形样板的方法

    公开(公告)号:CN104596433B

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201410701728.7

    申请日:2014-11-28

    IPC分类号: G01B11/14

    摘要: 本发明涉及一种可调式检测工作台,在下工作台上设有两个平行设置的滑道,且在两个滑道之间设有矩形通孔;在滑道上滑动配合有调节工作台,调节工作台的侧端面设有调节旋钮与滑动顶紧,在调节工作台的中心镶嵌光学玻璃,其位置与下工作台的矩形通孔位置对应;在光学玻璃的上方设有L型直角定位器,L型直角定位器的两端分别与调节工作台的边框连接。采用该检测工作台,可直接将被测零件的基准调平,其检测方法使操作变得简单,且提高了测量的准确度,提高了工作效率。

    激光辐射器校准方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101487767A

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200910010299.8

    申请日:2009-02-05

    IPC分类号: G01M11/00 G02B27/00

    摘要: 激光辐射器校准方法;其步骤如下:1.把万能方箱安放在平台上,套筒锁紧在万能方箱上;2.安装分度圆盘:使零位定位孔在最低点处;3.粘贴记录纸及及调整光点:距套筒端10米处平板上粘贴记录纸,调整激光辐射器上的微动螺母粗调、精调光点;4.安装激光辐射器;5.安装连接器;6.在记录纸上标记光点中心位置:铅锤位置为第一点,将激光辐射器旋转45度,在记录纸上标出第二光点,以此类推,继续标出各个分度的光点位置,直至整圆;7.测量记录纸上标记出的光点中心位置最小圆周直径;8.步骤7测出的光点中心位置最小圆周直径不满足要求时,重复步骤6、7;优点:旋转角度准确,保证了校准数据准确可靠,同时提高了工作效率。

    可调式检测工作台及其检测弧形样板的方法

    公开(公告)号:CN104596433A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201410701728.7

    申请日:2014-11-28

    IPC分类号: G01B11/14

    摘要: 本发明涉及一种可调式检测工作台,在下工作台上设有两个平行设置的滑道,且在两个滑道之间设有矩形通孔;在滑道上滑动配合有调节工作台,调节工作台的侧端面设有调节旋钮与滑动顶紧,在调节工作台的中心镶嵌光学玻璃,其位置与下工作台的矩形通孔位置对应;在光学玻璃的上方设有L型直角定位器,L型直角定位器的两端分别与调节工作台的边框连接。采用该检测工作台,可直接将被测零件的基准调平,其检测方法使操作变得简单,且提高了测量的准确度,提高了工作效率。

    激光辐射器校准方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101487767B

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN200910010299.8

    申请日:2009-02-05

    IPC分类号: G01M11/00 G02B27/00

    摘要: 激光辐射器校准方法;其步骤如下:1、把万能方箱安放在平台上,套筒锁紧在万能方箱上;2、安装分度圆盘:使零位定位孔在最低点处;3、粘贴记录纸及及调整光点:距套筒端10米处平板上粘贴记录纸,调整激光辐射器上的微动螺母粗调、精调光点;4、安装激光辐射器;5、安装连接器;6、在记录纸上标记光点中心位置:铅锤位置为第一点,将激光辐射器旋转45度,在记录纸上标出第二光点,以此类推,继续标出各个分度的光点位置,直至整圆;7、测量记录纸上标记出的光点中心位置最小圆周直径;8、步骤7测出的光点中心位置最小圆周直径不满足要求时,重复步骤6、7;优点:旋转角度准确,保证了校准数据准确可靠,同时提高了工作效率。

    量块研磨专用夹具
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN201455802U

    公开(公告)日:2010-05-12

    申请号:CN200920016309.4

    申请日:2009-08-13

    IPC分类号: B24B37/04

    摘要: 量块研磨专用夹具,是用于量块研磨的一种装置;量块研磨专用夹具,其特征在于由夹具体和锁紧螺钉组成,夹具体制成方框形,在夹具体的一对对边上制出安装锁紧螺钉的螺孔,将锁紧螺钉装在螺孔内;优点:量块研磨时,是将量块装在制成方框形的夹具体内,用一对锁紧螺钉固定,两手夹住夹具体研磨量块,温度对量块研磨影响小,提高了测量的准确性;夹具体相对量块体积大,方便两手夹握,夹握平稳,研磨效率高,节省研磨时间。

    一种检定游标卡尺的专用量具

    公开(公告)号:CN204630501U

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201520174259.8

    申请日:2015-03-26

    发明人: 郝志华

    IPC分类号: G01B3/20

    摘要: 一种检定游标卡尺的专用量具,其结构为:在底座上竖直设置有支架,升降装置安装在支架上,在升降装置的上部安装有水平的夹具,夹具上设置有异形块,所述的异形块上设置有大于等于2个依次排列且分布均匀的通孔,在底座上还并排设置有两个量块,两个量块的距离为游标卡尺深度测量杆的宽度。本实用新型采用上述结构,通过在带有底座的支架上设置异形块,并且使用升降装置调整异形块的高度,解决了现有技术中存在的由于一次要使用多个量块,对多个量块进行测量而产生的工作时间长,工作效率低的技术问题。本实用新型能够通过一个测量仪器代替多个量块,缩短了检定时间,提高了工作效率。

    量块检定专用检具
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN201583252U

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN201020010099.0

    申请日:2010-01-07

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 量块检定专用检具,是用于检定量块的专用检具;是在外框上制出下横槽,在下横槽上面制出上横槽,制出与上横槽相交并与下横槽相通的垂直槽,垂直槽上口制成开口状;优点:测量时将量块放在横槽内,不用反复调整被测量块的被测位置,节省测量时间,提高了测量工作效率;避免了手温对测量的影响,使测量数据更准确。