一种基于透光度的磁悬液浓度快速定性测定方法

    公开(公告)号:CN103063554A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201210582309.7

    申请日:2012-12-28

    IPC分类号: G01N15/06

    摘要: 本发明公开了一种基于透光度的磁悬液浓度快速定性测定方法,其先配制2份磁悬液,浓度分别为浓度上限Ch及浓度下限Cl;将上述浓度为Cl的磁悬液放在玻璃器皿中,用一束光强为L的光透照在玻璃器皿上,穿出玻璃器皿后测定其光强为Ll,该浓度的磁悬液黑度定义为Dl=lg(L/Ll);同理将浓度上限Ch所测黑度定义为Dh=lg(L/Lh);然后取未知浓度的磁悬液,盛装在玻璃器皿中,用光强为L的光照射,测定所取磁悬液黑度D,如果磁悬液黑度D不大于Dh、不小于Dl,则该磁悬液浓度满足磁粉检测工艺规程中关于磁悬液浓度的要求。采用本发明方法能迅速便捷的测定磁悬液浓度是否满足检测工艺规程的要求,使磁粉检测结果可靠。

    一种能确定缺陷尺寸及位置参数的TOFD检测方法

    公开(公告)号:CN103940906A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410161551.6

    申请日:2014-04-22

    IPC分类号: G01N29/04

    摘要: 本发明公开了一种能确定焊缝缺陷尺寸和位置的TOFD检测方法,其先在焊缝的一侧放置一个发射探头,焊缝的另一侧放置两个接收探头,一个接收探头靠近焊缝;然后再建立一个椭圆的数学模型,并利用matlab软件编程计算求解。本发明增加一个接收探头,这样一个发射探头发射,两个接收探头接收缺陷端部衍射回波,对相关数据信息进行计算处理,即可得到产生衍射波的精确位置。对于一个连续的缺陷而言,得到缺陷的两端部位置,即可确定缺陷尺寸及位置参数;采用本发明方法能精确测定缺陷尺寸及位置参数,满足一些对带缺陷的重要部件的安全评估的数据精度要求,且能减少表面盲区。

    一种焊接接头内部缺陷处理方法

    公开(公告)号:CN103901098A

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201410107554.1

    申请日:2014-03-22

    IPC分类号: G01N27/90

    摘要: 本发明公开了一种焊接接头内部缺陷处理方法,其包括以下步骤:将内部有缺陷的需要处理的焊接接头使用线圈缠绕;给线圈通以频率150Hz以上交变电流;使焊接接头温度升高到焊接接头的熔点以下某个温度,因为未熔合、裂纹等面积性缺陷表面能较大,在未到熔点温度时就开始熔化消失,且夹渣的棱角也会熔化成球形,降低应力集中。本发明操作非常简单,根据面积性缺陷表面能较大的特点,借助涡流效应在焊接接头内部产生的热量来消除缺陷,对于一些较难挖除的缺陷或者由于外界因素无法修理的焊接接头,采用本方法处理能得到较好的效果。