一种片剂硬度仪校准装置

    公开(公告)号:CN108918317B

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN201811108099.1

    申请日:2018-09-21

    IPC分类号: G01N3/62

    摘要: 本发明涉及一种片剂硬度仪校准装置,包括校准装置支架,校准装置支架上设置有光栅尺,光栅尺包括长度沿前后方向延伸的光栅导轨和导向移动装配于所述光栅导轨上的光栅读头,光栅读头上固定有沿上下方向延伸的传动杆,传动杆下端设有用于与相应片剂硬度仪的压力头接触传动配合的接触传动部。在使用时,传动杆下端的接触传动部与片剂硬度仪的压力头接触传动,当压力头移动时,压力头带动传动杆同步移动,传动杆带动光栅读头同步移动,通过光栅读头的读数和片剂硬度仪的位移传感器读数对比来对片剂硬度仪的位移传感器进行校准,不需进行更换动作,压力头的每一个移动距离,光栅读头均能读出相应的数值,可以进行多点连续的校准操作,校准过程非常的方便。

    一种基于机器视觉的玻璃线纹尺自动校准装置

    公开(公告)号:CN108534621B

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN201810737457.9

    申请日:2018-07-06

    IPC分类号: G01B3/02

    摘要: 本发明公开了一种基于机器视觉的玻璃线纹尺自动校准装置,属于计量校准技术领域,包括大理石平台以及用于支撑大理石平台的支撑架,在大理石平台上固定有底座,在底座上固定有圆柱形导轨,在圆柱形导轨上滑动连接有检测平台,在检测平台上设有第一条形通槽和第二条形通槽,所述第一条形通槽用于固定高等级标准玻璃线纹尺,第二条形通槽用于固定待校准玻璃线纹尺,在底座上固定有弯梁,在弯梁上固定有防热钢梁,在防热钢梁上左右并排固定有第一摄像装置和第二摄像装置;在底座前方的大理石平台上设有闭环运动控制系统;实现了一种集精确运动控制技术、机器视觉技术和图像处理技术为一体的玻璃线纹尺自动校准装置。

    一种架式钢卷尺检验用自动收卷装置

    公开(公告)号:CN114485311B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202210184778.7

    申请日:2022-02-28

    IPC分类号: G01B3/1005

    摘要: 本发明属于架式钢卷尺技术领域,且公开了一种架式钢卷尺检验用自动收卷装置,包括尺架、旋转手柄、开关及开设于尺架中部的放置区,所述放置区的内部活动套接有转轴,所述转轴的外表面缠绕有卷尺,所述转轴的顶端固定连接有旋转手柄,所述尺架的顶部通过固定架固定安装有伺服电机,所述伺服电机的输出轴固定连接有离合筒,所述离合筒的内部设置有离合机构。本发明通过设置有三号弹簧和二号弹簧以不同的受力状态同时对连接环施压,然后带动移动柱和活动筒向挤压柱的向心端施压,让活动筒的外表面对呈收卷状态的卷尺进行施压,从而使得呈收卷状态的卷尺内外圈接触部分的接触程度更加紧密,能够有效避免卷尺的不同厚度层之间产生的偏移。

    数字水准仪电子i角及视距误差检定用旋转条码尺

    公开(公告)号:CN110595510B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN201910956826.8

    申请日:2019-10-10

    IPC分类号: G01C25/00

    摘要: 本发明涉及一种数字水准仪电子i角及视距误差检定用旋转条码尺,底座上设置有左右调整座,左右调整座上设置有前后调整座,前后调整座上设置有上下调整装置,上下调整装置上设置有调平座,调平座上方设置有调平板,调平板与调平座通过调平螺栓连接,调平板上设置有驱动室,驱动室上端设置有盖板,盖板与调平板平行布置,驱动室上穿装有竖直设置的转轴,驱动室内设置有旋转机构,旋转机构驱动转轴相对驱动室转动,盖板上设置有尺座,尺座与转轴的上端通过连接键连接,尺座上垂直设置有尺柱,尺柱为正多边形柱状结构,其每个柱面上均粘贴有条码尺。结构简单、使用方便、占用空间小、只需安装一次,就可以实现对不同厂家的条码尺的自动切换。

    一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置

    公开(公告)号:CN110345837B

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN201910764848.4

    申请日:2019-08-19

    IPC分类号: G01B5/02 G01B11/02

    摘要: 本发明公开了一种基于激光干涉的大量程长度测量量具综合检校装置,属于长度测量量具的计量检定技术领域,包括底座,所述底座的顶部为工作平台,在工作平台上设有校准棒检校机构和卡尺检校机构和激光干涉组件;所述校准棒检校机构包括设置在工作平台上的直轨道,在直轨道上滑动连接有干涉镜支架、左测量座、可调V型支架、四维工作台和右测量座,在左测量座内浮动连接有左测微杆,在左测微杆的非测量端设有反射镜支座;本发明特别适合大量程通用卡尺、内径千分尺、校对棒的检定和校准;其中,干涉光路的调整只与待测工件移动部分的直线度有关,而对底座上直轨道的线性度要求不高,因此大大降低了底座本身的制作要求,降低了成本。