公开(公告)号：CN105150091B

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201510419293.1

申请日：2015-07-16

申请人： 河海大学

发明人： 张建峰 ,  李柏涛 ,  李改叶 ,  吴玉萍 ,  杨笑言 ,  张欣

IPC分类号： B24B37/27 ,  B24B37/34 ,  G01N1/32

摘要： 本发明的用于自动研磨抛光机的研磨抛光装置，包括修盘环和载样盘，所述修盘环为上下分离式结构，上修盘环的重量小于所述下修盘环的重量，修盘环表面设置有若干固定孔，固定孔在所述修盘环表面呈中心对称分布，或者其中一个固定孔设置于修盘环的中心，剩余的固定孔呈中心对称分布；下修盘环的底部设置有外径小于修盘环底部的凹槽，在修盘环底部的四周设置有若干排液槽，所述的载样盘与所述修盘环的固定孔保持间隙配合。本发明可同时研磨抛光多个小样品，既大大提高了效率，又避免了修盘环齿韧的磨损和样品侧歪而导致的抛光面不平，同时当研磨抛光硬度较大的样品时可以使用增重体用来提高研磨效率和质量。

公开(公告)号：CN105150091A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201510419293.1

申请日：2015-07-16

申请人： 河海大学

发明人： 张建峰 ,  李柏涛 ,  李改叶 ,  吴玉萍 ,  杨笑言 ,  张欣

IPC分类号： B24B37/27 ,  B24B37/34 ,  G01N1/32

CPC分类号： B24B37/27 ,  B24B37/34 ,  G01N1/32

摘要： 本发明的用于自动研磨抛光机的研磨抛光装置，包括修盘环和载样盘，所述修盘环为上下分离式结构，上修盘环的重量小于所述下修盘环的重量，修盘环表面设置有若干固定孔，固定孔在所述修盘环表面呈中心对称分布，或者其中一个固定孔设置于修盘环的中心，剩余的固定孔呈中心对称分布；下修盘环的底部设置有外径小于修盘环底部的凹槽，在修盘环底部的四周设置有若干排液槽，所述的载样盘与所述修盘环的固定孔保持间隙配合。本发明可同时研磨抛光多个小样品，既大大提高了效率，又避免了修盘环齿韧的磨损和样品侧歪而导致的抛光面不平，同时当研磨抛光硬度较大的样品时可以使用增重体用来提高研磨效率和质量。

公开(公告)号：CN105081962B

公开(公告)日：2018-10-23

申请号：CN201510406801.2

申请日：2015-07-10

申请人： 河海大学

发明人： 张建峰 ,  李柏涛 ,  吴玉萍 ,  李改叶 ,  张欣 ,  郭文敏 ,  曹慧杨

IPC分类号： B24B37/30

摘要： 本发明公开了一种用于小样品硬质薄片研磨抛光的装置，包括修盘环和载样盘，所述的修盘环表面设置有多个固定孔，所述的固定孔在所述修盘环表面呈中心对称分布，或者其中一个固定孔设置于修盘环的中心，剩余的固定孔呈中心对称分布，修盘环上的固定孔根据所需研磨抛光样品尺寸制造；所述的修盘环的底部设置有外径小于修盘环底部的凹槽，在修盘环底部的四周设置有若干排液槽。本发明可以研磨抛光单个小样品或同时研磨抛光多个小样品，同时保证了研磨精度，避免样品变形影响抛光质量，当研磨抛光硬度较大的样品时可以使用增重体用来提高研磨效率和质量。

公开(公告)号：CN105081962A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201510406801.2

申请日：2015-07-10

申请人： 河海大学

发明人： 张建峰 ,  李柏涛 ,  吴玉萍 ,  李改叶 ,  张欣 ,  郭文敏 ,  曹慧杨

IPC分类号： B24B37/30

CPC分类号： B24B37/30

摘要： 本发明公开了一种用于小样品硬质薄片研磨抛光的装置，包括修盘环和载样盘，所述的修盘环表面设置有多个固定孔，所述的固定孔在所述修盘环表面呈中心对称分布，或者其中一个固定孔设置于修盘环的中心，剩余的固定孔呈中心对称分布，修盘环上的固定孔根据所需研磨抛光样品尺寸制造；所述的修盘环的底部设置有外径小于修盘环底部的凹槽，在修盘环底部的四周设置有若干排液槽。本发明可以研磨抛光单个小样品或同时研磨抛光多个小样品，同时保证了研磨精度，避免样品变形影响抛光质量，当研磨抛光硬度较大的样品时可以使用增重体用来提高研磨效率和质量。