一种抗SEU加固的锁存器结构

    公开(公告)号:CN106971753B

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201610878141.2

    申请日:2017-01-09

    IPC分类号: G11C7/24

    摘要: 本发明公开一种抗SEU加固的锁存器结构,包括存储单元、前置逻辑电路,所述存储单元包括第一支路、第二支路、第三支路、第四支路、第五支路、第六支路,所述存储单元还包括节点A、节点B1、节点B2、节点C1、节点C2、节点D,所述节点A设置于所述第一支路上,所述节点B1设置于所述第二支路上,所述节点B2设置于所述第三支路上,所述节点C1设置于所述第四支路上,所述节点C2设置于所述第五支路上,所述节点D设置于所述第六支路上,所述前置逻辑电路的输出端分别与所述节点B1、所述节点B2、所述节点C1、所述节点C2相连接。本发明通过增加冗余存储节点,增加抗SEU的性能,当其中任一存储节点发生0→1和1→0的翻转,本发明都有正确的逻辑输出。

    一种抗单节点SEU加固的新型SRAM单元

    公开(公告)号:CN106373605A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610841737.5

    申请日:2016-09-22

    IPC分类号: G11C11/412

    CPC分类号: G11C11/4125

    摘要: 本发明公开了一种抗单节点SEU加固的新型SRAM单元,其特征在于,包括新型存储单元、SRAM读写电路(1)、SRAM读写电路(2),所述新型存储单元包括第一支路、第二支路、第三支路、第四支路,所述第一支路的输出端与所述第二/四支路的输入端相连接,所述第二支路的输出端与所述第一/三支路的输入端相连接,所述第三支路的输出端与所述第二/四支路的输入端相连接,所述第四支路的输出端与所述第一/三支路的输入端相连接,所述新型存储单元还包括节点A、节点B、节点C、节点D。本发明的电路中通过晶体管冗余来增加抗SEU加固的强度,当其中任一存储节点发生0至1和1至0的翻转,该结构都会具有正确的逻辑输出。

    一种抗SEU加固的锁存器结构

    公开(公告)号:CN106971753A

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201610878141.2

    申请日:2017-01-09

    IPC分类号: G11C7/24

    CPC分类号: G11C7/24

    摘要: 本发明公开一种抗SEU加固的锁存器结构,包括存储单元、前置逻辑电路,所述存储单元包括第一支路、第二支路、第三支路、第四支路、第五支路、第六支路,所述存储单元还包括节点A、节点B1、节点B2、节点C1、节点C2、节点D,所述节点A设置于所述第一支路上,所述节点B1设置于所述第二支路上,所述节点B2设置于所述第三支路上,所述节点C1设置于所述第四支路上,所述节点C2设置于所述第五支路上,所述节点D设置于所述第六支路上,所述前置逻辑电路的输出端分别与所述节点B1、所述节点B2、所述节点C1、所述节点C2相连接。本发明通过增加冗余存储节点,增加抗SEU的性能,当其中任一存储节点发生0→1和1→0的翻转,本发明都有正确的逻辑输出。