-
公开(公告)号：CN103890597A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201280052741.3
申请日：2012-10-05
申请人： 泰拉丁公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2834 , H01L22/20 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 本发明公开了用于配置测试系统的技术，所述技术允许在测试半导体器件的单独功能部分的过程中的并行度的简化指定。对于具有多个子流程的测试流程而言，可标识出与每个子流程有关的被接入引脚以定义流程域。可定义站区，每个站区与某个流程域相关联。可使测试器站与这些流程域专用站区中的每一个相关联，并且可将独立操作资源分配到这些测试器站。还可使所述定义的站区的第二部分与测试器站相关联，但可从多个流程域来接入分配给这些站区的资源。即使并非开发用于并行执行的测试块也可利用所述流程域专用站区中的资源来并行地执行。通过使用所述站区的第二部分来提供灵活性以共享资源。
-
公开(公告)号：CN1826536A
公开(公告)日：2006-08-30
申请号：CN200480021044.7
申请日：2004-06-12
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 斯蒂芬·J·霍特亚克 , 阿兰·L·布利茨 , 兰德尔·B·斯廷森
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31907 , G01R31/31917
摘要： 一种自动测试系统例如可作为制造过程的一部分用来测试半导体器件。该测试系统使用仪器来产生和测量测试信号。该自动测试系统具有使得在其被制造之后将仪器添加到测试系统上的硬件和软件体系结构。该软件分成仪器专用软件和独立于仪器的软件。软件组件的预定义接口使得能够容易地将仪器集成到测试系统中，并且在测试系统的实际实现时或仪器随产品系列中的测试机改变时能够容易地重用该软件。
-
公开(公告)号：CN103454578A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310356671.7
申请日：2004-06-12
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 斯蒂芬·J·霍特亚克 , 阿兰·L·布利茨 , 兰德尔·B·斯廷森
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31907 , G01R31/31917
摘要： 本发明涉及一种用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法。自动测试系统例如可作为制造过程的一部分用来测试半导体器件。该测试系统使用仪器来产生和测量测试信号。该自动测试系统具有使得在其被制造之后将仪器添加到测试系统上的硬件和软件体系结构。该软件分成仪器专用软件和独立于仪器的软件。软件组件的预定义接口使得能够容易地将仪器集成到测试系统中，并且在测试系统的实际实现时或仪器随产品系列中的测试机改变时能够容易地重用该软件。
-
公开(公告)号：CN101166985A
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200680014631.2
申请日：2006-04-12
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 斯蒂芬·J·霍特亚克 , 兰德尔·B·斯廷森 , 丹尼尔·P·桑顿
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/31908
摘要： 一种用于具有多个测试点的自动测试设备(ATE)的方法，每个测试点分别容纳被测器件(DUT)，该方法包括：定义用于多个测试点的对象，其中该对象包括至少与多个测试点中的一些测试点相关的数据，而且该对象确定哪些测试点是激活的。该方法还包括在利用ATE测试DUT期间使用该对象。
-
公开(公告)号：CN103890597B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201280052741.3
申请日：2012-10-05
申请人： 泰拉丁公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2834 , H01L22/20 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 本发明公开了用于配置测试系统的技术，所述技术允许在测试半导体器件的单独功能部分的过程中的并行度的简化指定。对于具有多个子流程的测试流程而言，可标识出与每个子流程有关的被接入引脚以定义流程域。可定义站区，每个站区与某个流程域相关联。可使测试器站与这些流程域专用站区中的每一个相关联，并且可将独立操作资源分配到这些测试器站。还可使所述定义的站区的第二部分与测试器站相关联，但可从多个流程域来接入分配给这些站区的资源。即使并非开发用于并行执行的测试块也可利用所述流程域专用站区中的资源来并行地执行。通过使用所述站区的第二部分来提供灵活性以共享资源。
-
公开(公告)号：CN103454578B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310356671.7
申请日：2004-06-12
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 斯蒂芬·J·霍特亚克 , 阿兰·L·布利茨 , 兰德尔·B·斯廷森
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31907 , G01R31/31917
摘要： 本发明涉及一种用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法。自动测试系统例如可作为制造过程的一部分用来测试半导体器件。该测试系统使用仪器来产生和测量测试信号。该自动测试系统具有使得在其被制造之后将仪器添加到测试系统上的硬件和软件体系结构。该软件分成仪器专用软件和独立于仪器的软件。软件组件的预定义接口使得能够容易地将仪器集成到测试系统中，并且在测试系统的实际实现时或仪器随产品系列中的测试机改变时能够容易地重用该软件。
-
公开(公告)号：CN101166985B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200680014631.2
申请日：2006-04-12
申请人： 泰拉丁公司
发明人： 斯蒂芬·J·霍特亚克 , 兰德尔·B·斯廷森 , 丹尼尔·P·桑顿
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/31908
摘要： 一种用于具有多个测试点的自动测试设备(ATE)的方法，每个测试点分别容纳被测器件(DUT)，该方法包括：定义用于多个测试点的对象，其中该对象包括至少与多个测试点中的一些测试点相关的数据，而且该对象确定哪些测试点是激活的。该方法还包括在利用ATE测试DUT期间使用该对象。
-
-
-
-
-
-
搜索结果
7 条记录 (耗时 0.021 秒)
